[发明专利]真空共晶焊的芯片定位夹具、制造方法及芯片转运方法有效

专利信息
申请号: 201510348147.4 申请日: 2015-06-23
公开(公告)号: CN104900575B 公开(公告)日: 2018-11-20
发明(设计)人: 周义;刘米丰;曹向荣;符容 申请(专利权)人: 上海航天电子通讯设备研究所
主分类号: H01L21/68 分类号: H01L21/68;H01L21/683
代理公司: 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 代理人: 胡晶
地址: 200082 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种真空共晶焊的定位夹具、制造方法及芯片转运方法,该定位夹具包括衬底、支撑台阶及限位台阶,衬底上设置有吸附孔,支撑台阶用于支撑芯片,限位台阶用于对芯片进行限位。该制造方法包括:在衬底表面形成支撑台阶;在支撑台阶表面形成限位台阶;在衬底中心位置加工出吸附孔。该芯片转运方法包括:吸头吸住芯片定位夹具;吸头通过吸附孔将芯片吸附在芯片定位夹具的限位台阶中;将芯片移动到封装盒中的合适位置;拆除吸头,安装压力杆。本发明的定位夹具、制造方法及芯片转运方法简化了芯片转运过程,节省了工艺时间,减小了芯片转运中的位置公差,提高了位置精度。
搜索关键词: 真空 共晶焊 芯片 定位 夹具 制造 方法 转运
【主权项】:
1.一种真空共晶焊的芯片定位夹具,其特征在于,包括:衬底、支撑台阶以及限位台阶,其中:所述衬底上设置有吸附孔,用于吸附所述芯片;所述支撑台阶位于所述衬底的表面区域,用于支撑所述芯片;所述限位台阶位于所述支撑台阶的背离所述衬底的表面区域,用于限制所述芯片的运动;所述支撑台阶包括第一部分和第二部分,其中:所述第一部分为围绕所述衬底四周的第一边框;所述第二部分为位于所述第一部分内的孤岛,所述孤岛的厚度与所述第一边框的厚度一致;所述限位台阶为围绕所述衬底四周的第二边框,所述第二边框的厚度与所述芯片的厚度一致;所述第二边框的外边框与所述第一边框的外边框对齐,所述第二边框的内边框与所述芯片的尺寸一致。
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