[发明专利]一种用于裂隙岩体隙宽变形的测量方法有效
| 申请号： | 201510349517.6 | 申请日： | 2015-06-23 |
| 公开（公告）号： | CN106323222B | 公开（公告）日： | 2019-02-26 |
| 发明（设计）人： | 满轲;苏锐;王驹 | 申请（专利权）人： | 核工业北京地质研究院 |
| 主分类号： | G01B21/32 | 分类号： | G01B21/32 |
| 代理公司： | 核工业专利中心 11007 | 代理人： | 包海燕 |
| 地址： | 100029 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明属于岩体测量试验技术领域，具体涉及一种用于裂隙岩体隙宽变形的测量方法。本发明将工程现场取样获得的上岩样、下岩样上下叠合放置，二者之间形成具有一定宽度的裂隙，计算机每隔一定时间间隔，控制左侧隙宽测量装置从岩体左侧测量上岩样、下岩样的隙宽变化量，控制右侧隙宽测量装置从岩体右侧测量上岩样、下岩样的隙宽变化量，并计算两侧隙宽变化量的平均值，得到整个裂隙岩体的隙宽变形参数。本发明解决了现有技术难以在米级尺度的天然岩体中通过直接测试获得其隙宽变形特性的技术问题，模拟天然岩体的真实受力情况，能够对各种尺度下的岩体、特别是米级尺度下岩体通过直接测试获得其隙宽变形特性，得到其力学性能参数。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 裂隙 岩体隙宽 变形 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于裂隙岩体隙宽变形的测量方法，其特征在于：包括以下步骤：步骤1将工程现场取样获得的上岩样(1)、下岩样(4)上下叠合放置，上岩样(1)下表面为上岩样粗糙表面(5)，下岩样(4)上表面为下岩样粗糙表面(6)，上岩样粗糙表面(5)与下岩样粗糙表面(6)之间形成具有一定宽度的裂隙；左侧隙宽测量装置(2)和右侧隙宽测量装置(3)分别安装在所述裂隙左侧和右侧，左侧隙宽测量装置(2)和右侧隙宽测量装置(3)均连接至同一台计算机；步骤2计算机每隔一定时间间隔，控制左侧隙宽测量装置(2)从岩体左侧测量上岩样(1)、下岩样(4)的隙宽变化量，控制右侧隙宽测量装置(3)从岩体右侧测量上岩样(1)、下岩样(4)的隙宽变化量，并计算两侧隙宽变化量的平均值，得到整个裂隙岩体的隙宽变形参数；所述左侧隙宽测量装置(2)和所述右侧隙宽测量装置(3)彼此独立工作；所述左侧隙宽测量装置(2)和所述右侧隙宽测量装置(3)采用位移变形计测量装置。
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