[发明专利]一种针对反熔丝FPGA测试烧录系统在审
| 申请号： | 201510351617.2 | 申请日： | 2015-06-24 |
| 公开（公告）号： | CN106324474A | 公开（公告）日： | 2017-01-11 |
| 发明（设计）人： | 华晋书 | 申请（专利权）人： | 华晋书 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 610054 四川省成都市成华区*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明属于集成电路领域，涉及一种反熔丝FPGA测试烧录系统，特别的是，该烧录系统并非针对成品反熔丝FPGA进行测试烧录，而是针对反熔丝FPGA未流片前测试，能更早发现反熔丝FPGA电路内部存在的隐患。该测试系统能在后仿结束后能结合将要流片的工艺提供更加精确的FPGA烧录预估，同时该系统可以兼容全系列FPGA，并且该系统能很大程度上提高芯片流片的成功概率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 针对 反熔丝 fpga 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种针对反熔丝FPGA测试烧录系统，其特征在于，包括：对应位流通过烧录器系统和软硬件接口/信号源进入电路；反熔丝点在烧录之后可以维持对应烧录特性，并完成功能测试；反熔丝阵列通道通过开关MOS管切换接入电压或者逻辑单元接口。
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