[发明专利]放射性物质参数测量方法有效
| 申请号： | 201510353575.6 | 申请日： | 2015-06-24 |
| 公开（公告）号： | CN105044762B | 公开（公告）日： | 2018-01-12 |
| 发明（设计）人： | 魏龙;孙世峰;章志明;帅磊;李道武;王宝义;唐浩辉;李婷;王英杰;刘彦韬;王晓明;朱美玲;张译文;周魏 | 申请（专利权）人： | 中国科学院高能物理研究所 |
| 主分类号： | G01T1/29 | 分类号： | G01T1/29 |
| 代理公司： | 北京律智知识产权代理有限公司11438 | 代理人： | 阚梓瑄,路兆强 |
| 地址： | 100049 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开提供了一种放射性物质参数测量方法。该方法包括S1.获取辐射场中放射性物质通过一编码孔径准直器在一探测器平面上的投影图像；S2.对于所述辐射场中一放射性物质点源，假定其与所述探测器平面之间的多个不同的估算距离；S3.根据假定的各所述估算距离，对所述投影图像进行图像重建，得到该放射性物质点源的多个不同的重建图像；S4.依据预设指标对各所述重建图像的质量进行评价；S5.确定评价最高的所述重建图像对应的估算距离为该放射性物质点源与所述探测器平面之间的实际距离。本公开中的方法更加简单易行。 | ||
| 搜索关键词： | 放射性 物质 参数 测量方法 | ||
【主权项】：
一种放射性物质参数测量方法，其特征在于，包括：S1.获取辐射场中放射性物质通过一编码孔径准直器在一探测器平面上的投影图像；S2.对于所述辐射场中一放射性物质点源，假定其与所述探测器平面之间的多个不同的估算距离；S3.根据假定的各所述估算距离，对所述投影图像进行图像重建，得到该放射性物质点源的多个不同的重建图像；S4.依据预设指标对各所述重建图像的质量进行评价；S5.确定评价最高的所述重建图像对应的估算距离为该放射性物质点源与所述探测器平面之间的实际距离；其中，所述预设指标包括所述重建图像的最大值、以所述重建图像最大值的周围区域作为信号区域时所述重建图像中非信号区域所有像素的均方根、以及所述重建图像信噪比中的一种或多种。
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