[发明专利]实物表面采样数据尖锐特征样点法向估计方法在审
申请号: | 201510353818.6 | 申请日: | 2015-06-25 |
公开(公告)号: | CN105303613A | 公开(公告)日: | 2016-02-03 |
发明(设计)人: | 孙殿柱;南艳艳;李延瑞;魏亮 | 申请(专利权)人: | 山东理工大学 |
主分类号: | G06T17/30 | 分类号: | G06T17/30 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 255086 山东省淄*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本发明提供一种实物表面采样数据尖锐特征样点法向估计方法,属于产品逆向工程技术领域,其特征在于:基于核密度估计方法计算目标样点及其邻域数据的模式点,根据目标样点与其对应模式点的偏离程度建立特征识别准则,基于采样模型过渡曲面圆角半径以及目标样点与模式点的偏离程度定义特征识别敏感系数,用以调整特征识别敏感度,基于间隙统计算法估计非封闭曲面采样数据特征样点自然分簇数目,利用聚类分析的方法对非封闭曲面采样数据特征样点对应的残差平方和集合进行自适应分簇,从而去除裁剪特征样点,提取尖锐特征样点,根据尖锐特征样点与模式点的位置关系估计样点法向。采用本方法能够快速有效提取封闭曲面采样数据与非封闭曲面采样数据尖锐特征样点并对样点法向进行准确估计。 | ||
搜索关键词: | 实物 表面 采样 数据 尖锐 特征 样点法 估计 方法 | ||
【主权项】:
一种实物表面采样数据尖锐特征样点法向估计方法,其特征在于步骤依次为:(1)基于核密度估计方法计算目标样点邻域数据的模式点,计算样点与其模式点的偏离程度,将偏离程度较大的样点识别为特征样点,对封闭曲面采样数据识别到的特征样点即为尖锐特征样点,而对于非封闭曲面采样数据识别到的特征样点为尖锐特征样点与裁剪特征样点的集合;(2)根据采样模型过渡曲面圆角半径以及样点与模式点的偏离程度定义特征识别敏感系数,用以调整特征识别敏感度;(3)设非封闭曲面采样数据裁剪特征样点与尖锐特征样点集合为,对中任一样点及其邻域数据拟合最小二乘平面,计算样点与其拟合平面的残差平方和,得到样点集合对应的残差平方和集合,通过聚类分析算法对进行分簇,残差平方和较大的数据簇对应的样点即为尖锐特征样点;(4)设获取的尖锐特征样点集合为,对中的样点采用核密度估计的方法计算可反映采样数据局部样点分布特征的模式点,根据样点与模式点的位置关系估计样点的法向量:。
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