[发明专利]低温多晶硅TFT基板结构的制作方法及低温多晶硅TFT基板结构有效
申请号: | 201510355056.3 | 申请日: | 2015-06-24 |
公开(公告)号: | CN105097667B | 公开(公告)日: | 2018-03-30 |
发明(设计)人: | 张良芬 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/77 | 分类号: | H01L21/77;H01L27/12 |
代理公司: | 深圳市德力知识产权代理事务所44265 | 代理人: | 林才桂 |
地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供一种低温多晶硅TFT基板结构的制作方法及低温多晶硅TFT基板结构。本发明的低温多晶硅TFT基板结构的制作方法,通过在驱动TFT区域的缓冲层下方设置有规律且大小一致的导热绝缘层图案,使其在后续准分子激光退火处理过程中吸收热量,从而使非晶硅的冷却速度加快,形成晶核,并在退火过程逐渐生长,由于导热绝缘层具有有规律且大小一致的图案,从而使驱动TFT区域形成的多晶硅的晶粒具有较好的一致性,且晶粒相对较大,保证了驱动TFT的电性一致性。本发明的低温多晶硅TFT基板结构,驱动TFT区域的缓冲层下方设置有有规律且大小一致的导热绝缘层图案,驱动TFT区域的多晶硅的晶粒一致性较好,且晶粒相对较大,驱动TFT的电性一致性较好。 | ||
搜索关键词: | 低温 多晶 tft 板结 制作方法 | ||
【主权项】:
一种低温多晶硅TFT基板结构的制作方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1、提供基板(1),所述基板(1)包括开关TFT区域与驱动TFT区域,在所述基板(1)上沉积导热绝缘薄膜,并对所述导热绝缘薄膜进行图案化处理,得到位于所述驱动TFT区域的导热绝缘层(10);步骤2、在所述基板(1)上沉积缓冲层(2),所述缓冲层(2)覆盖所述导热绝缘层(10);步骤3、在所述缓冲层(2)上沉积非晶硅层,并对所述非晶硅层进行图案化处理,得到位于所述开关TFT区域的第一非晶硅段(31)、及位于所述驱动TFT区域的第二非晶硅段(32);步骤4、对所述第一非晶硅段(31)、第二非晶硅段(32)进行准分子激光退火处理,使所述第一非晶硅段(31)、第二非晶硅段(32)结晶,分别转变为第一多晶硅段(301)、第二多晶硅段(302);步骤5、在所述缓冲层(2)上沉积层间绝缘层(4),所述层间绝缘层(4)覆盖所述第一多晶硅段(301)、第二多晶硅段(302);步骤6、在所述层间绝缘层(4)上沉积金属层,并对所述金属层进行图案化处理,分别对应所述第一多晶硅段(301)、第二多晶硅段(302)的上方形成第一栅极(51)与第二栅极(52);所述导热绝缘层(10)的图案为均匀分布且大小一致的圆形、或方形。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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