[发明专利]一种制备厚碳化硅单晶晶锭的方法在审

专利信息
申请号: 201510355963.8 申请日: 2015-06-25
公开(公告)号: CN105040104A 公开(公告)日: 2015-11-11
发明(设计)人: 董明东;刘欣宇;林琳 申请(专利权)人: 江苏艾科勒科技有限公司
主分类号: C30B29/36 分类号: C30B29/36;C30B23/00
代理公司: 上海海颂知识产权代理事务所(普通合伙) 31258 代理人: 陈丽君
地址: 212000 江苏省镇*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种制备厚碳化硅单晶晶锭的方法,其制备方法如下:(1)籽晶生长得碳化硅单晶晶锭;(2)以碳化硅单晶晶锭作为籽晶,通过增大坩埚体的高度和温场计算,实现碳化硅晶体再生长得厚碳化硅单晶晶锭;(3)在晶体生长的坩埚尺寸允许范围内重复步骤(2),可进行反复多次的晶体再生长;本发明通过晶体的再生长,突破了常规物理气相传输法的结构限制,实现了超厚单晶晶锭的生长,使单晶晶锭的厚度大于常规极限40毫米。
搜索关键词: 一种 制备 碳化硅 单晶晶锭 方法
【主权项】:
一种制备厚碳化硅单晶晶锭的方法,其特征为,其制备方法如下:(1)碳化硅晶体生长将碳化硅粉源置于坩埚体底部,籽晶固定在坩埚盖上,此时籽晶与碳化硅粉源之间的距离为H1,籽晶生长晶体至最大厚度为20 ~ 40毫米后停止生长,得碳化硅单晶晶锭;根据坩埚体、坩埚盖、碳化硅粉源和碳化硅粉源与籽晶之间的距离使用商用有限元分析软件,或仿真软件进行温场梯度的计算,得到晶体生长过程中坩埚内的温场梯度,所述温场梯度包括横向即垂直于晶体生长方向的温场梯度和纵向即平行于晶体生长方向的温场梯度,所述的横向温场梯度小于等于10 °C/cm,纵向温场梯度为10 ~ 50 °C/cm;(2)碳化硅晶体再生长增大坩埚体的高度得新的坩埚体,将步骤(1)中的坩埚盖连同碳化硅单晶晶锭置于新的坩埚体上,此时碳化硅单晶晶锭与碳化硅粉源之间的距离H2与步骤(1)中的H1相同;通过温场计算,使碳化硅单晶晶锭表面处于与步骤(1)中籽晶表面相同或相近的温场梯度中;重复步骤(1),得厚碳化硅单晶晶锭;(3)在晶体生长的坩埚尺寸允许范围内重复步骤(2),可进行反复多次的晶体再生长得更厚的碳化硅单晶晶锭,所述的坩埚尺寸小于等于500毫米。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于江苏艾科勒科技有限公司,未经江苏艾科勒科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510355963.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top