[发明专利]一种基于CR成像的GIS可视化无损检测方法在审
| 申请号： | 201510357310.3 | 申请日： | 2015-06-25 |
| 公开（公告）号： | CN104991133A | 公开（公告）日： | 2015-10-21 |
| 发明（设计）人： | 刘冠辰;吴章勤;刘荣海;郑欣;徐辉;臧利川;潘堉祺 | 申请（专利权）人： | 云南电网有限责任公司电力科学研究院 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 昆明大百科专利事务所 53106 | 代理人： | 何健 |
| 地址： | 650217 云南省昆*** | 国省代码： | 云南;53 |
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| 摘要： | 一种基于CR成像的GIS可视化无损检测方法，包括如下步骤：A.对GIS设备进行局放检测，将检测到的局放数据进行分析，确定缺陷大致位置；B.将CR胶片固定在检测出缺陷的GIS罐体上，利用X射线发射机，对局放出现异常的区域照射X射线投影于CR胶片上；C.将经过X射线照射的CR胶片放置在CR扫描仪中，并与电脑相连，将胶片上的数据读入电脑中，形成可视化图像；D.分析结果，确定GIS设备缺陷的位置及其性质。本发明可以确定GIS设备内部是否存在缺陷以及何种缺陷，同时直观地确定和识别出GIS设备内部缺陷的位置。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 cr 成像 gis 可视化 无损 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种基于CR成像的GIS可视化无损检测方法，其特征在于，包括如下步骤：A.对GIS设备进行局放检测，将检测到的局放数据进行分析，确定缺陷大致位置；B.将CR胶片固定在检测出缺陷的GIS罐体上，利用X射线发射机，对局放出现异常的区域照射X射线投影于CR胶片上；C.将经过X射线照射的CR胶片放置在CR扫描仪中，并与电脑相连，将胶片上的数据读入电脑中，形成可视化图像；D.分析结果，确定GIS设备缺陷的位置及其性质。
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