[发明专利]一种复杂目标中顶帽结构的尺寸参数提取方法有效
| 申请号： | 201510357508.1 | 申请日： | 2015-06-25 |
| 公开（公告）号： | CN104977578B | 公开（公告）日： | 2017-11-03 |
| 发明（设计）人： | 崔闪;闫华;李胜 | 申请（专利权）人： | 北京环境特性研究所 |
| 主分类号： | G01S7/48 | 分类号： | G01S7/48 |
| 代理公司： | 北京君恒知识产权代理事务所(普通合伙)11466 | 代理人： | 黄启行,张璐 |
| 地址： | 100854*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种复杂目标中复杂目标中顶帽结构的尺寸参数提取方法，包括构建顶帽结构的参数化模型；针对任一入射角，提取顶帽结构在顶帽结构在该入射角下的RCS变化曲线；根据顶帽结构在任一入射角下的RCS变化曲线，获取顶帽结构的RCS空间分布图；依据RCS空间分布图和参数化模型确定顶帽结构的尺寸参数信息。根据本发明的复杂目标中顶帽结构的尺寸参数提取方法，无须要求顶帽结构满足帽顶高度和帽沿宽相等的条件，能够针对一般的顶帽结构，且能够提高复杂目标中顶帽结构尺寸参数提取的准确性和精确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 复杂 目标 中顶帽 结构 尺寸 参数 提取 方法 | ||
【主权项】：
一种复杂目标中顶帽结构的尺寸参数提取方法，包括：构建顶帽结构的参数化模型；针对任一入射角，获取顶帽结构在所述入射角下的一维距离像历程图以及一维距离像信息，提取顶帽结构在所述入射角下的RCS变化曲线；所述RCS变化曲线是指顶帽结构的RCS强度值与方位角之间的关系；根据顶帽结构在任一入射角下的RCS变化曲线，获取顶帽结构的RCS空间分布图；依据所述RCS空间分布图，提取顶帽结构在任一方位角下的RCS强度最大值，以及与所述RCS强度最大值对应的入射角，并根据所述参数化模型确定顶帽结构的尺寸参数信息；其中，所述尺寸参数信息包括顶帽结构的帽顶高度和帽沿宽度；所述参数化模型公式为：式中，为电压，用来表征目标RCS强度值的大小，且j为复数单位，k为波数，r为帽顶半径，h为帽顶高度，d为帽沿宽度，θ为入射角。
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