[发明专利]抗单粒子翻转的加固SRAM电路有效

专利信息
申请号: 201510357822.X 申请日: 2015-06-25
公开(公告)号: CN106328189B 公开(公告)日: 2019-07-05
发明(设计)人: 杨海钢;李天文;蔡刚 申请(专利权)人: 中国科学院电子学研究所
主分类号: G11C11/413 分类号: G11C11/413
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 曹玲柱
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了抗单粒子翻转的加固SRAM电路。该加固SRAM电路包括:读写模块、隔离模块、上拉模块和下拉模块。读写模块,用于在字线信号WL为高电平时,对第三节点n3和第四节点n4的数据读出/写入。隔离模块包括:第一隔离单元和第二隔离单元。上拉模块包括:第一上拉单元和第二上拉单元。下拉模块包括:第一下拉单元和第二下拉单元。本发明通过上述四个模块的协同工作,在保证抗单粒子翻转能力的同时保持较快的读写速度,较短的翻转恢复时间以及较低的功耗。
搜索关键词: 粒子 翻转 加固 sram 电路
【主权项】:
1.一种抗单粒子翻转的加固SRAM电路,其特征在于,包括:读写模块、隔离模块、上拉模块和下拉模块;读写模块,用于在字线信号WL为高电平时,对第三节点(n3)和第四节点(n4)的数据读出/写入;隔离模块包括:第一隔离单元和第二隔离单元;第一隔离单元包括:第三PMOS管(MP3)和第四PMOS管(MP4),其中,第三PMOS管(MP3)的源极连接至第五节点(n5);第四PMOS管(MP4)的源极连接至第六节点(n6);第二隔离单元包括:第一NMOS管(MN1)和第二NMOS管(MN2),其中,第一NMOS管(MN1)的源极连接至第一节点(n1),第二NMOS管的源极连接至第二节点(n2);其中,第三PMOS管(MP3)和第一NMOS管(MN1)的漏极、第四PMOS管(MP4)和第二NMOS管(MN2)的栅极,共同连接第三节点(n3);第三PMOS管(MP3)和第一NMOS管(MN1)的栅极、第四PMOS管(MP4)和第二NMOS管(MN2)的漏极,共同连接至第四节点(n4);上拉模块包括:第一上拉单元和第二上拉单元;下拉模块包括:第一下拉单元和第二下拉单元;其中,第一上拉单元和第二下拉单元共同作用,用于保持第五节点(n5)和第六节点(n6)其中之一为高电平,其中另一为低电平;第二上拉单元和第一下拉单元共同作用,用于保持第一节点(n1)和第二节点(n2)其中之一为高电平,其中另一为地低电平。
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