[发明专利]基于高度测量的硬币表面质量检测装置及其检测方法有效
| 申请号： | 201510358144.9 | 申请日： | 2015-06-25 |
| 公开（公告）号： | CN105160754B | 公开（公告）日： | 2019-12-10 |
| 发明（设计）人： | 王学文;张正;王刚;廖卫平;杨宝爵;肖腾;郑镇鑫 | 申请（专利权）人： | 中钞长城金融设备控股有限公司;中国印钞造币总公司 |
| 主分类号： | G07D7/16 | 分类号： | G07D7/16;G07D7/12 |
| 代理公司： | 11381 北京汲智翼成知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人： | 陈曦;王鹏丽 |
| 地址： | 100044 北京市西城*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种基于高度测量的硬币表面质量检测装置及其检测方法。在该硬币表面质量检测装置中，通过设置在检测工位上方的激光发射装置和面阵信号接收装置，采集硬币表面的高度数据，进而获得硬币的三维轮廓；然后将采集到的硬币的三维轮廓与标准硬币轮廓比对，进行硬币表面质量检测。上述检测装置和检测方法，利用了划痕等缺陷中硬币表面高度的变化进行检测，不依赖于硬币的放置角度，并且不受硬币表面漫反射的影响，检测结果准确性高，尤其对于硬币表面的划痕、粘坑、凸起的检测有明显效果。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 高度 测量 硬币 表面 质量 检测 装置 及其 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于高度测量的硬币表面质量检测装置，其特征在于：/n包括设置在硬币传输通道的检测工位上方的激光发射装置和面阵信号接收装置，还包括与所述面阵信号接收装置连接的数据处理模块，/n所述激光发射装置设置在所述检测工位的正上方，用于向经过的硬币表面垂直入射线激光；所述面阵信号接收装置倾斜设置在所述检测工位的斜上方，用于接收由硬币表面反射的光线；/n所述数据处理模块用于对所述面阵信号接收装置在单个硬币通过检测工位的对应时间内采集到的高度数据进行分析，获得硬币的三维轮廓，并将之与标准硬币轮廓进行比对，分析硬币表面质量；/n其中，所述数据处理模块对硬币的三维轮廓与标准硬币轮廓比对的过程包括以下步骤：/n高度校正：根据多个相对标准面的测量值将测量数据每点的高度基准线性校正到与标准模型对齐；所述相对标准面是指平整的传送带或被测物表面特殊区域；/n平面内的反射变换校正：使得被测模型与标准模型在形状、角度和位置上均实现基本对齐；/n局部精细定位与比对：采用标准模型和基准可变的相对模型同时进行比对；/n结果判别：所有区域比对完成后得到残点图，通过对残点图的分析，最终得到被测物的表面质量检测结果。/n
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