[发明专利]用于呈现微粒立体形貌的装置有效

专利信息
申请号: 201510361130.2 申请日: 2015-06-28
公开(公告)号: CN105004886B 公开(公告)日: 2018-03-06
发明(设计)人: 边义祥;钱国明 申请(专利权)人: 扬州大学
主分类号: G01Q60/14 分类号: G01Q60/14
代理公司: 扬州苏中专利事务所(普通合伙)32222 代理人: 孙忠明
地址: 225009 *** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种用于呈现微粒立体形貌的装置,属于呈像仪器技术领域,主要特点是在底座中部的中间载物工作台两侧的底座上分别固定左边电极工作台、右边电极工作台,本发明利用隧道效应,针对传统式显微镜只能观测探头所正对样品的端面的形貌这一局限,通过中间载物工作台两侧的底座上分别固定的左边电极工作台、右边电极工作台控制左右电极工作台上的左右两个电极之间及中间被测物体的相对位置,突破性对所固定在中间载物台上的原子或近似原子级大小的微粒进行360°全方位立体扫描,扫面样品的各个平面并有利于呈现出来其真正的三维立体的结构形貌,本发明结构相对简单,适用性很强,具有很高的经济效益和社会效益。
搜索关键词: 用于 呈现 微粒 立体 形貌 装置
【主权项】:
一种用于呈现微粒立体形貌的装置,其特征是,所述装置包括底座,底座中部的中间载物工作台,中间载物工作台两侧的底座上分别固定的左边电极工作台、右边电极工作台;两电极工作台分别经其自动进给功能控制相应电极工作台上的电极之间及中间被测物体的相对位置;所述左边电极工作台、右边电极工作台均为三维位移工作台,各电极夹持器分别安装在相应边的三维压电微位移工作台上;各三维压电微位移工作台分别通过支架安装在相应边的三维位移工作台上,三维位移工作台安装在底座上。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于扬州大学,未经扬州大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510361130.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top