[发明专利]磁光检测装置有效

专利信息
申请号: 201510362058.5 申请日: 2015-06-26
公开(公告)号: CN104914051B 公开(公告)日: 2017-07-14
发明(设计)人: 殷涛;刘东平;牛建锋;王锴 申请(专利权)人: 北京锦润汇泽科技发展有限公司
主分类号: G01N21/21 分类号: G01N21/21;G01N21/95
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100007 北京市东*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种磁光检测装置,属于金属材料缺陷检测的技术领域。本发明的磁光检测装置,包括磁条移动机构,磁条移动机构包括磁条入口和磁条出口,在磁条入口和磁条出口之间具有磁条移动路径;在移动路径上方法设置有压板,在所述移动路径下方且面对所述压板的位置设置有磁光膜,磁光膜的下方设置有分光片、偏振光源以及摄像头;压板用于将所述磁条压合在所述磁光膜上,而偏振光源用于提供偏振光,所述偏振光通过分光片后照射到磁光膜上,磁光膜反射的光线经过分光片的折射后利用摄像头进行成像。本发明的磁光检测装置通过扫描金属表面的磁场信息,来判断并确定铁磁性金属表面的缺陷,由于磁场不受灰尘、油漆的影响,因此可以实现无损探测。
搜索关键词: 检测 装置
【主权项】:
一种磁光检测装置,其特征在于:包括磁条移动机构,所述磁条移动机构包括磁条入口和磁条出口,在所述磁条入口和磁条出口之间具有磁条移动路径;在所述移动路径上方设置有压板,在所述移动路径下方且面对所述压板的位置设置有磁光膜,磁光膜的下方设置有分光片、偏振光源以及摄像头;所述压板用于将所述磁条压合在所述磁光膜上,而所述偏振光源用于提供偏振光,所述偏振光通过分光片后照射到磁光膜上,磁光膜反射的光线经过分光片的折射后利用摄像头进行成像;所述磁条移动机构包括第一步进电机和滚轴,所述滚轴用于驱动所述磁条在所述磁条移动路径中移动,而所述滚轴通过所述第一步进电机驱动;所述磁光检测装置还包括第二步进电机,所述第二步进电机用于驱动所述压板上下运动。
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