[发明专利]一种岩样有机质成熟度测量方法有效
| 申请号： | 201510363849.X | 申请日： | 2015-06-26 |
| 公开（公告）号： | CN106323885B | 公开（公告）日： | 2019-04-02 |
| 发明（设计）人： | 仰云峰;申宝剑;鲍芳;许锦;曹婷婷 | 申请（专利权）人： | 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院 |
| 主分类号： | G01N21/27 | 分类号： | G01N21/27 |
| 代理公司： | 北京聿宏知识产权代理有限公司 11372 | 代理人： | 张文娟;朱绘 |
| 地址： | 100728 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种岩样有机质成熟度测量方法。该方法利用数字图像技术获取地质样品有机质灰度图像，分析和处理灰度图像中有机质的灰度级，根据相同测试条件下的标准物质的反射率与灰度值之间的关系，求取地质样品灰度图像中测试区的反射率分布，然后根据地质样品灰度图像中测试区的反射率分布求取测试区的反射率平均值，由此确定测试区的有机质成熟度。相比传统测试方法，该方法具有样品观察更加直观，成熟度确定更加准确，结果检验更加便捷等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 有机质 成熟度 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种岩样有机质成熟度测量方法，包括以下步骤：S110、记录显微镜下地质样品通过反射入射光而形成的灰度图像；S120、对地质样品灰度图像中存在有机质的测试区进行灰度采集，获得测试区的灰度分布；S130、根据相同测试条件下的标准物质的反射率与灰度值之间的关系，求取地质样品灰度图像中测试区的反射率分布；S140、根据地质样品灰度图像中测试区的反射率分布求取测试区的反射率平均值，由此确定测试区的有机质成熟度；其中，所述灰度等于入射光强度与反射率的乘积，其中所述反射率是衡量地质样品有机质反射光线的能力的参数。
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