[发明专利]X射线能量的平场图像测量方法有效
| 申请号： | 201510364137.X | 申请日： | 2015-06-26 |
| 公开（公告）号： | CN104931997B | 公开（公告）日： | 2018-07-13 |
| 发明（设计）人： | 宋顾周;段宝军;黑东炜;马继明;韩长材 | 申请（专利权）人： | 西北核技术研究所 |
| 主分类号： | G01T1/16 | 分类号： | G01T1/16 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 倪金荣 |
| 地址： | 71002*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明涉及X射线能量的平场图像测量装置及方法。包括射线探测组件与信号记录组件；述射线探测组为CCD、CMOS、胶片、成像板或闪烁体，用于将X射线转变成相应的平场图像；当射线探测组为CCD或CMOS时，信号记录组件包括用于将平场图像电信号收集、放大、量化的电信号读出系统；当射线探测组为胶片或成像板时，信号记录组件用于实现平场图像信号显影过程；当射线探测组为闪烁体时，信号记录组件包括平场图像的光学成像系统；光学成像系统包括反射镜、镜头和相机。本发明提供了一种系统规模小、可以在一次测量中，同时获得射线的强度与能量且适用于稳态射线源的能量测量的X射线能量的平场图像测量装置及方法。 | ||
| 搜索关键词： | 射线探测 信号记录 光学成像系统 图像测量装置 组件包括 成像板 闪烁体 胶片 图像 图像电信号 读出系统 能量测量 图像测量 图像信号 系统规模 显影过程 一次测量 反射镜 射线源 稳态 射线 放大 相机 量化 镜头 | ||
【主权项】：
1.一种X射线能量的平场图像测量方法，其特征在于：包括以下步骤：1)标定：1.1)多个已知能量的X射线分别入射到阵列探测器；1.2)阵列探测器探测并输出相应的平场图像；1.3)对输出的平场图像进行记录；1.4)计算每个平场图像的噪声指数，获得X射线的能量与噪声指数的关系曲线；所述噪声指数为方差与平均值的比值；2)待测X射线入射到阵列探测器；阵列探测器探测并输出一个平场图像；3)计算输出的平场图像的噪声指数，从步骤1.4能量与噪声指数的关系曲线中获得待测X射线的能量信息；所述X射线为脉冲源或大于106/s高强度射线束。
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