[发明专利]基于F-P标准具的瞬态高分辨率光谱仪有效
| 申请号： | 201510366145.8 | 申请日： | 2015-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN105092032B | 公开（公告）日： | 2018-07-13 |
| 发明（设计）人： | 石锦卫;赵芸赫;李鸿暾;魏巍威;刘大禾 | 申请（专利权）人： | 北京师范大学 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100875 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 该发明是一种瞬态高分辨率光谱测量装置，涉及高分辨率光谱测量领域和瞬态光谱测量领域。该高分辨率光谱测量装置利用标准具自身的角度分光以及通过将多个F‑P标准具串接的技术来实现对单脉冲瞬态光谱的高分辨率测定。该发明可应用于布里渊散射、塞曼效应、自旋电子学等高分辨光谱测量领域。 | ||
| 搜索关键词： | 高分辨率 光谱测量装置 光谱测量 瞬态光谱 标准具 瞬态 高分辨率光谱仪 布里渊散射 自旋电子学 测量领域 塞曼效应 串接的 单脉冲 等高 分光 分辨 应用 | ||
【主权项】：
1.基于F‑P标准具的瞬态高分辨率分光方法，其特征在于：通过多个F‑P标准具串接的方式提高光谱仪的分辨率和自由光谱范围，在利用F‑P标准具的空间分光能力实现实时光谱检测的同时又能实现高分辨率、宽自由光谱范围的要求；入射信号首先经过光束变换器中的准直系统变为平行光，然后通过柱透镜后变成柱面波，柱面波入射到偏振棱镜上，其中p分量经1/2波片后变为s分量，接着进入由串接标准具所组成的分光系统，分光后的光线顺时针经过环形腔系统后会再次被偏振棱镜反射进入1/2波片，这时s分量经1/2波片后又重新变为p分量，再次顺时针通过环形腔系统，最终透过偏振棱镜到达聚焦元件，通过聚焦元件的聚焦使不同波长的光在透镜的后焦面上将形成分离的点状光谱，最后使用CCD在透镜的后焦面对信号进行成像，完成瞬态高分辨光谱的实时测量；而最初的s分量被任意光学表面反射后逆时针经环形腔系统射出系统。
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