[发明专利]一种分析絮凝—超滤联用的膜污染情况及絮凝剂用量的方法有效
申请号: | 201510366629.2 | 申请日: | 2015-06-26 |
公开(公告)号: | CN104977267B | 公开(公告)日: | 2019-02-01 |
发明(设计)人: | 孟凡刚;周铭浩 | 申请(专利权)人: | 中山大学 |
主分类号: | G01N21/33 | 分类号: | G01N21/33 |
代理公司: | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人: | 陈卫 |
地址: | 510275 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明属于水处理技术领域,具体公开了一种分析絮凝—超滤联用的膜污染情况及絮凝剂用量的方法。具体步骤为:S1.测量得到经过絮凝处理水样的紫外—可见吸收光谱;S2.根据所得的紫外—可见吸收光谱,计算得到光谱参数DSlope325‑375,S275‑295和SR;S3.将絮凝后的水样进行超滤处理,所得终点J/J0用于表示膜污染程度;S4.将得到的光谱参数和终点J/J0联系起来,分析超滤膜的污染情况,并且获得优化的絮凝剂用量。本发明能够较快地分析絮凝处理对于超滤膜性能的影响,并通过观察光谱参数与膜污染程度的关系,获得优化的絮凝剂投加量。 | ||
搜索关键词: | 一种 分析 絮凝 超滤 联用 污染 情况 用量 方法 | ||
【主权项】:
1.一种分析絮凝—超滤联用的膜污染情况及絮凝剂用量的方法,其特征在于,包括如下步骤:S1.将一定浓度梯度的絮凝剂与含溶解性有机物的水样充分反应,待水样絮凝稳定后,提取上层液体检测紫外—可见吸收光谱;S2.使用S1所得紫外—可见吸收光谱,计算得出光谱参数值DSlope325‑375、S275‑295、SR;S3.将絮凝后的水样进行超滤处理,获得表示膜污染程度的参数终点J/J0;S4.将光谱参数DSlope325‑375、S275‑295、SR三者与终点J/J0联系起来,通过光谱参数来表征膜污染的程度,通过观察光谱参数的变化情况,确定优化的絮凝剂投加量;所述溶解性有机物为腐殖酸、腐殖酸和牛血清蛋白的混合物、腐殖酸和葡聚糖的混合物中的任一种;所述絮凝剂为氯化铝;所述DSlope325‑375为指示溶解性有机物与金属离子结合程度的光谱参数,计算公式如下:DSlope325‑375=Slope325‑375,i‑Slope325‑375,ref其中,Slope325‑375表示,在325到375纳米的波长范围内,经过对数变换处理的吸光度的线性回归曲线的斜率;Slope325‑375,i和Slope325‑375,ref分别代表添加絮凝剂与未添加絮凝剂的水样的斜率;所述S275‑295表示,在275到295纳米的波长范围内,经过对数变换处理的吸收系数的回归曲线的斜率;所述SR为S275‑295与S350‑400的比值;所述S350‑400表示,在350到400纳米的波长范围内,经过对数变换处理的吸收系数的回归曲线的斜率;所述J/J0表示过滤过程中滤液的流量与过滤开始时滤液的流量的比值。
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