[发明专利]一种电子元器件规模化自动分辨合格品的方法及其系统有效
| 申请号： | 201510374489.3 | 申请日： | 2015-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN104923494A | 公开（公告）日： | 2015-09-23 |
| 发明（设计）人： | 董南京;孙德波;于永革 | 申请（专利权）人： | 歌尔声学股份有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/342 | 分类号： | B07C5/342 |
| 代理公司： | 北京博雅睿泉专利代理事务所(特殊普通合伙) 11442 | 代理人： | 马佑平;马铁良 |
| 地址： | 261031 山东省*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种电子元器件规模化自动分辨合格品的方法及系统，包括以下步骤：采集合格的电子元器件成品或半成品的图像作为标准图像存储到自动光学检验设备中；在自动光学检验设备中提供待检测的包括多个电子元器件成品或半成品的PCB板；从PCB板上获取PCB板标识信息；对PCB板上的多个待检测的电子元器件成品或半成品进行图像采集；将所采集的待检测的电子元器件成品或半成品的图像与标准图像进行处理和比对并赋予品质标识；生成PCB板的Map信息；将Map信息发送至生产执行设备存储，以供后续设备读取。本发明解决了人工检验所导致的生产效率低、错检漏检率高等局限性，从而实现了电子元器件规模化自动分辨合格品的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电子元器件 规模化 自动 分辨 合格品 方法 及其 系统 | ||
【主权项】：
一种电子元器件规模化自动分辨合格品的方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、采集合格的电子元器件成品或半成品的图像作为标准图像存储到自动光学检验设备中；S2、在自动光学检验设备中提供待检测的包括多个电子元器件成品或半成品的PCB板；S3、从所述PCB板上获取PCB板标识信息，所述PCB板标识信息与该PCB板唯一对应；S4、对PCB板上的多个待检测的电子元器件成品或半成品进行图像采集；S5、将所采集的待检测的电子元器件成品或半成品的图像与所述标准图像进行处理和比对，判断其为良品或次品，并对相应的电子元器件成品或半成品赋予品质标识，所述品质标识标记了该电子元器件成品或半成品为良品或次品；S6、生成所述PCB板的Map信息，所述Map信息记录了PCB板标识信息、每个电子元器件成品或半成品在PCB板中的位置信息与相应的电子元器件成品或半成品的品质标识之间的对应关系；S7、将所述Map信息发送至生产执行设备存储，以供后续设备读取。
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