[发明专利]一种光伏电池栅线测量方法在审
| 申请号： | 201510376582.8 | 申请日： | 2015-07-01 |
| 公开（公告）号： | CN105140145A | 公开（公告）日： | 2015-12-09 |
| 发明（设计）人： | 黄海深;袁占强;袁江芝;吴波;杨秀德;周庭艳 | 申请（专利权）人： | 遵义师范学院 |
| 主分类号： | H01L21/66 | 分类号： | H01L21/66 |
| 代理公司： | 重庆强大凯创专利代理事务所(普通合伙) 50217 | 代理人： | 黄书凯 |
| 地址： | 563099 贵州省遵*** | 国省代码： | 贵州;52 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请公开了一种光伏电池栅线测量方法。实现栅线宽度的自动测量。包括下述步骤：1）获取光伏电池栅线的图像；2）将栅线边缘的坐标值进行记录；3）栅线边缘拟合为线段；4）栅线边缘两侧线段的斜率进行平均为倾斜因子，并利用倾斜因子修正栅线边缘两侧线段中心的距离，以修正后的栅线边缘两侧线段中心的距离作为栅线的宽度。此程序可以在测量栅线的宽度过程中实现自动化测量，免去使用人工主观判断，从而使栅线测量的值最接近于客观，并通过倾斜因子的引入提高检测的准确性。整个方案提高了测量速度，节省人力，对产能的提升有辅助作用。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电池 测量方法 | ||
【主权项】：
一种光伏电池栅线测量方法，其特征在于包括下述步骤：1）获取光伏电池栅线的图像；2）将栅线边缘的坐标值进行记录；3）栅线边缘拟合为线段；4）栅线边缘两侧线段的斜率进行平均为倾斜因子，并利用倾斜因子修正栅线边缘两侧线段中心的距离，以修正后的栅线边缘两侧线段中心的距离作为栅线的宽度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于遵义师范学院，未经遵义师范学院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201510376582.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：马达
- 下一篇：一种转子采用混合保护措施的高速永磁电机
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
