[发明专利]结构光三维测量中的斜投影校正方法及系统有效

专利信息
申请号: 201510377750.5 申请日: 2015-06-30
公开(公告)号: CN104990517B 公开(公告)日: 2018-11-02
发明(设计)人: 王冠 申请(专利权)人: 东莞市盟拓光电科技有限公司
主分类号: G01B11/25 分类号: G01B11/25;G01B11/06
代理公司: 深圳市恒申知识产权事务所(普通合伙) 44312 代理人: 王利彬
地址: 523000 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及基于结构光的三维测量技术领域,尤其涉及一种结构光三维测量中的斜投影校正方法及系统。校正方法包括如下步骤:根据输入投影机的原始图像及投影机将原始图像斜投影到投影平面上得到的投影图像计算原始图像到投影图像的扭曲;根据扭曲计算要获得目标投影图像需要输入投影机的源图像;将源图像输入投影机以投影出目标投影图像。本发明根据希望获得的目标投影图像,再结合计算得出的由原始图像到将原始图像斜投影到投影平面上得到的投影图像的扭曲,反求出要获得目标投影图像需要输入投影机的源图像,从而获得了标准的目标投影图像。该校正方法只涉及投影校正,避免了投影机的系统误差对投影造成的影响。
搜索关键词: 投影机 目标投影 原始图像 斜投影 校正 图像 投影图像 结构光 源图像 三维测量 投影平面 扭曲 投影 计算原始图像 三维测量技术 投影校正 系统误差 反求
【主权项】:
1.一种结构光三维测量中的斜投影校正方法,其特征在于,包括如下步骤:根据输入投影机的原始图像及所述投影机将所述原始图像斜投影到投影平面上得到的投影图像计算所述原始图像到所述投影图像的扭曲;根据所述扭曲计算要获得目标投影图像需要输入所述投影机的源图像;将所述源图像输入所述投影机以投影出所述目标投影图像;其中,设原始图像中的任意点的坐标为N(x0,y0),将所述原始图像斜投影到投影平面上得到的投影图像中与坐标N(x0,y0)对应的点的坐标为M(x,y);计算扭曲的方法为:根据N(x0,y0)及M(x,y)拟合由M(x,y)到N(x0,y0)的函数曲线;拟合由M(x,y)到N(x0,y0)的函数曲线的公式如下:x0=ax3+bx2+cx+d;y0=ey3+fy2+gy+h。
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