[发明专利]涂层测厚系统及其测厚方法在审
申请号: | 201510378475.9 | 申请日: | 2015-07-01 |
公开(公告)号: | CN104964663A | 公开(公告)日: | 2015-10-07 |
发明(设计)人: | 田雨农;张东辉;刘洪时;苍柏 | 申请(专利权)人: | 大连楼兰科技股份有限公司 |
主分类号: | G01B21/08 | 分类号: | G01B21/08;G08C17/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 116000 辽宁省大连市高新技*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | 本发明提供了一种涂层测厚系统及其测厚方法,其中,涂层测厚系统包括测厚仪(1)、与所述测厚仪(1)通讯连接的适配器(2)以及与所述适配器(2)连接的移动终端(3),所述适配器(2)包括: 无线收发单元(21)、微控制器(22)以及发送单元(23);具体测厚方法为:1)用测厚仪进行涂层厚度的检测;2)接收所述测厚仪检测到的关于涂层厚度信息并进行解调,提取涂层厚度的具体检测值并发送;3)接收、显示、记录所述涂层厚度的具体检测值;上述涂层测厚系统和测厚方法具有设计合理,结构简单,方便使用,便于数据的读取,可实现同时连接多台移动终端等优点。 | ||
搜索关键词: | 涂层 系统 及其 方法 | ||
【主权项】:
一种涂层测厚系统,包括测厚仪(1)、与所述测厚仪(1)通讯连接的适配器(2)以及与所述适配器(2)连接的移动终端(3),其特征在于,所述适配器(2)包括: 无线收发单元(21),与所述测厚仪(1)连接,用于接收所述测厚仪(1)发送的数据信息,且所述数据信息与所述测厚仪(1)检测涂层的厚度值相关;微控制器(22),与所述无线收发单元(21)连接,用于解调所述无线收发单元(21)接收到的数据信息,并提取所述数据信息中涂层厚度的具体检测值;发送单元(23),与所述微控制器(22)连接,用于读取所述微控制器(22)提取的涂层厚度的具体检测值并将所述涂层厚度的具体检测值发送到所述移动终端(3)。
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