[发明专利]硅基低漏电流固支梁栅MOS管倒相器及制备方法有效

专利信息
申请号: 201510379914.8 申请日: 2015-07-01
公开(公告)号: CN105140225B 公开(公告)日: 2017-12-05
发明(设计)人: 廖小平;王凯悦 申请(专利权)人: 东南大学
主分类号: H01L27/092 分类号: H01L27/092;H01L29/423;H01L21/8238
代理公司: 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙)32249 代理人: 杨晓玲
地址: 211189 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明是一种硅基低漏电流固支梁栅MOS管倒相器及制备方法,该倒相器由固支梁栅NMOS管和固支梁栅PMOS管构成。该倒相器的MOS管的制作在Si衬底上,其栅极是悬浮在栅氧化层上方的,形成固支梁结构。固支梁栅的下方设计有电极板,每个MOS管的电极板与该MOS管的源极短接。固支梁栅下拉电压设计为等于MOS管的阈值电压的绝对值。当在固支梁栅与电极板间的电压小于阈值电压时,固支梁栅是悬浮在栅氧化层的上方,而只有在固支梁栅与电极板间的电压达到或大于阈值电压时,固支梁栅才会下拉到贴在栅氧化层栅氧化层上,从而使MOS管导通。本发明在工作中增大了栅极的阻抗,减小了栅氧化层中的场强,所以减小了栅极漏电流,有效地降低了功耗。
搜索关键词: 硅基低 漏电 流固支梁栅 mos 管倒相器 制备 方法
【主权项】:
一种硅基低漏电流固支梁栅MOS管倒相器,其特征是该倒相器由固支梁栅NMOS管(1)和固支梁栅PMOS管(2)构成,该倒相器中的MOS管制作在P型Si衬底(3)上,其输入引线(4)利用多晶硅制作,固支梁栅NMOS管的源极(10)接地,固支梁栅PMOS管的源极(11)接电源;固支梁栅NMOS管的漏极(14)与固支梁栅PMOS管的漏极(15)短接,对于倒相器中的MOS管,其栅极悬浮在栅氧化层(5)上方,形成固支梁结构,两个MOS管的固支梁栅(6)是短接的,该固支梁栅(6)的锚区(7)制作在栅氧化层(5)上;固支梁栅(6)下方设计有电极板(8),电极板(8)的上方有栅氧化层(5)的覆盖,每个MOS管电极板(8)与该MOS管的源极短接。
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