[发明专利]电子元件分选方法及装置

摘要

本发明揭示一种电子元件分选方法及装置，包括：一检测机构，用以对受测元件进行检测，设有将完成检测的受测元件排出的管路；一分选机构，包括一移摆机构，其设有水平设置的转轴，转轴一端设一拨架并与其连动，拨架上设有一分配头，转轴受一第一驱动件驱动可作间歇性转动，及受一第二驱动件驱动可沿转轴轴向作间歇性直线位移；一分配座，设有多个分配管分别接设收集容器；该分配头与受测元件的排出管路连结，以令管路中的受测元件被卸放至分配座上预定的分配管中被排放收集。

主权项

1.一种电子元件分选方法，用以将完成检测的受测元件进行分类，包括：使一分配头与一受测元件的排出管路连结；使一分配座上设置多个分配管；操作分配头摆移，以令管路中的受测元件被卸放至预定的分配管中被排放收集；该分配座设有三度空间的矩形立体向下凹陷的凹弧状平面，各分配管的配设呈由上往下的扇形放射状配置，各分配管上方端口呈凹弧状平面排列布设；该分配头受一转轴操作而作上、下的弧形摆移，并可沿该转轴轴向配合前、后的水平直线滑移。