[发明专利]多参考频率的激光器波长校验装置及其校验方法

摘要

本发明公开了一种多参考频率的激光器波长校验装置及其校验方法，方法为产生由频率为f1的第一参考光源和频率为f2的第二参考光源耦合而成，且第一参考光源的光强度A不等于第二参考光源的光强度B的多频率参考光源；将多频率参考光源和激光器发射的待测光源进行耦合；通过光电探测单元对多频率参考光源和待测光源的耦合光进行检测得到拍频结果；根据拍频结果以及第一参考光源和第二参考光源的光强度大小关系判定待测光源频率偏差方向，得到该待测光源频率的偏差方向判定结果。本发明通过引入多频率参考光源实现了对待测激光器频率偏差方向的区分，且结构简单、成本较低、易于实施。

主权项

多参考频率的激光器波长校验装置，其特征在于，包括：多频率参考光源产生单元，用于输出多频率参考光源，所述多频率参考光源由频率为f1的第一参考光源和频率为f2的第二参考光源耦合而成，且|f1‑f2|＝Δf；第一参考光源的光强度A不等于第二参考光源的光强度B；第一光耦合器，接收多频率参考光源和激光器发射的待测光源，进行耦合后输出；光电探测器，对所述第一光耦合器输出的耦合光进行检测得到拍频结果，并输出；结果判定单元，根据拍频结果以及第一参考光源和第二参考光源的光强度大小关系，判定待测光源频率偏差方向，得到该待测光源频率的偏差方向判定结果；所述拍频结果有以下三种：第一种：在Δf处有一个固定频率的拍频分量，在小于Δf处有两个拍频分量，且两个拍频分量的频率之和的绝对值为Δf；第二种：在Δf处有一个固定频率的拍频分量，在大于Δf处有两个拍频分量，且两个拍频分量的频率之差的绝对值为Δf；第三种：在Δf处有一个固定频率的拍频分量，在大于Δf和小于Δf处各有一个拍频分量，且两个拍频分量的频率之差的绝对值为Δf；所述结果判定单元对待测光源频率偏差方向判定原则为：(1)拍频结果为第一种，偏差方向判定结果为待测光源频率大于多频率参考光源中的较小频率，小于多频率参考光源中的较大频率；(2)拍频结果为第二种：(a)当第一参考光源光强度A大于第二参考光源光强度B时，如果大于Δf处两个拍频分量中频率较大的拍频分量功率较大，则偏差方向判定结果为待测光源频率大于多频率参考光源中的较大频率；如果大于Δf处两个拍频分量中频率较大的拍频分量功率较小，则偏差方向判定结果为待测光源频率小于多频率参考光源中的较小频率；(b)当第一参考光源光强度A小于第二参考光源光强度B时，如果大于Δf处两个拍频分量中频率较大的拍频分量功率较大，则偏差方向判定结果为待测光源频率小于多频率参考光源中的较小频率；如果大于Δf处两个拍频分量中频率较大的拍频分量功率较小，则偏差方向判定结果为待测光源频率大于多频率参考光源中的较大频率；(3)拍频结果为第三种：(a)当第一参考光源光强度A大于第二参考光源光强度B时；如果Δf两侧的拍频分量中大于Δf处的拍频分量的拍频分量功率较大，则偏差方向判定结果为待测光源频率fx大于多频率参考光源中的较大频率；如果Δf两侧的拍频分量中大于Δf处的拍频分量的拍频分量功率较小，则偏差方向判定结果为待测光源频率fx小于多频率参考光源中的较小频率；(b)当第一参考光源光强度A小于第二参考光源光强度B时；如果Δf两侧的拍频分量中大于Δf处的拍频分量的拍频分量功率较大，则偏差方向判定结果为待测光源频率fx小于多频率参考光源中的较小频率；如果Δf两侧的拍频分量中大于Δf处的拍频分量的拍频分量功率较小，则偏差方向判定结果为待测光源频率fx大于多频率参考光源中的较大频率。