[发明专利]电子设备和装置检测方法在审

专利信息
申请号: 201510388987.3 申请日: 2015-07-03
公开(公告)号: CN105279112A 公开(公告)日: 2016-01-27
发明(设计)人: 中尾学 申请(专利权)人: 富士通株式会社
主分类号: G06F13/12 分类号: G06F13/12;G06F13/16
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 朱胜;陈炜
地址: 日本神*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种设备包括存储器、第一处理器和第二处理器,其中:该第一处理器被配置为保持表示多个装置的第一顺序的第一顺序数据,生成表示作为第一顺序的一部分的第二顺序的第二顺序数据,并且在生成第二顺序数据之后减少第一处理器的电力消耗;存储器被配置为保持第二顺序数据;第二处理器被配置为检测多个装置,确定多个装置的检测顺序与第二顺序是否一致,并且在检测顺序与第二顺序一致的情况下输出一致信号;以及第一处理器被配置为基于一致信号而增加第一处理器的电力消耗。
搜索关键词: 电子设备 装置 检测 方法
【主权项】:
一种设备,包括:存储器;第一处理器;以及第二处理器,其中,所述第一处理器被配置为:保持表示多个装置的第一顺序的第一顺序数据,生成表示所述多个装置的第二顺序的第二顺序数据,其中所述第二顺序是所述第一顺序的一部分、包括所述第一顺序的第一阶段但不包括所述第一顺序的最后阶段,以及在生成所述第二顺序数据之后减少所述第一处理器的电力消耗,所述存储器被配置为保持所述第二顺序数据,所述第二处理器被配置为:检测所述多个装置,确定所述多个装置的检测顺序与所述存储器中所保持的所述第二顺序是否一致,在所述检测顺序与所述第二顺序一致的情况下输出一致信号,以及所述第一处理器被配置为基于所述一致信号而增加所述第一处理器的电力消耗。
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