[发明专利]一种MRI测温磁场漂移相位补偿方法在审

专利信息
申请号: 201510395002.X 申请日: 2015-07-07
公开(公告)号: CN104997512A 公开(公告)日: 2015-10-28
发明(设计)人: 陈相教;孙健永;张建国 申请(专利权)人: 中国科学院上海技术物理研究所
主分类号: A61B5/055 分类号: A61B5/055
代理公司: 上海三方专利事务所 31127 代理人: 吴玮;李美立
地址: 200083*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种MRI系统中磁场漂移相位补偿方法,这个方法的核心在于把测温物体本身的温度信息,和外界干扰因素独立开来,保证补偿过程中的外部信息和测温过程中的外部信息保持不变,通过这种方法来保证误差补偿的有效性。在误差补偿求取的过程中,固定采样时间,对大量的原始MR数据进行重建,然后计算磁场漂移在一定时间内对恒温物体相位信息的影响,并最终得到恒温下的平均相位偏移量,以便物体测温磁场漂移相位补偿过程中,将每一个相位改变量减去该平均相位偏移量。最后再使用独立的数据,对这个相位补偿量的准确性进行验证。本发明为MRI测温过程中由于磁场漂移所引起的误差提供了一种有效的补偿方法,提高了MRI测量的准确性。
搜索关键词: 一种 mri 测温 磁场 漂移 相位 补偿 方法
【主权项】:
一种MRI测温磁场漂移补偿方法,包括:步骤一,采用MR设备对于恒温检测体进行扫描;步骤二,MR设备间隔固定时间采集K空间的数据并储存;其特征在于还包括以下步骤:步骤三,对步骤二采集的数据进行傅里叶变换,分别重建出幅度图像和相位图像;步骤四,多次重复步骤二至步骤三,按照时间先后顺序得到多幅相位图像;根据适于人眼直接观察的幅度图像,选取区域1,到与幅度图像匹配的相位图像中求取同样的区域位置、相同大小的区域2的灰度平均值,利用相邻相位图像计算出相位的变化,统计整段时间内相位变化量,将多个相位变化量求和后取平均值;步骤五,对测温物体进行测温,将测温过程中的得到的相位图像的相位值减去步骤四得到的相应位置的平均值,从而实现测温过程相位的补偿。
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