[发明专利]基于逆扩散的太阳能电池选择性掺杂方法有效
申请号: | 201510395579.0 | 申请日: | 2013-04-01 |
公开(公告)号: | CN105140334B | 公开(公告)日: | 2017-04-05 |
发明(设计)人: | 邓洁;林凡;王强;邓洪海;高锐锋 | 申请(专利权)人: | 南通大学 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L21/225 |
代理公司: | 南京同泽专利事务所(特殊普通合伙)32245 | 代理人: | 蔡晶晶 |
地址: | 226019*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及一种基于逆扩散的太阳能电池选择性掺杂方法,步骤如下将硅片置于有氧环境下进行高温扩散形成PN结,同时硅片上表面被氧化;除去硅片顶电极区以外的氧化层;在硅片上表面淀积本征非晶硅层;将硅片置于湿氧环境中进行高温扩散,使非顶电极区的掺杂元素逆向扩散入非晶硅层,顶电极区氧化层中的掺杂元素向顶电极区扩散,同时非晶硅层及非顶电极区的硅片表面被氧化形成氧化层;去除硅片表面的氧化层,完成太阳能电池的逆扩散选择性掺杂。本发明采用逆扩散的方法,通过非晶硅吸收非顶电极区的杂质,使非顶电极区的掺杂浓度降低,同时顶电极区进行了二次掺杂,导致顶电极区与非顶电极区的掺杂浓度差进一步增大,提高了选择性掺杂的效果。 | ||
搜索关键词: | 基于 扩散 太阳能电池 选择性 掺杂 方法 | ||
【主权项】:
基于逆扩散的太阳能电池选择性掺杂方法,包括如下步骤:第1步、将N型单晶硅硅片置于湿氧环境下进行高温预扩散,使硼元素扩散入硅片形成PN结,同时硅片表面被氧化形成硼硅玻璃层;该氧化层中含有高浓度的硼元素,生成的氧化层厚度为0.05微米,该氧化层中硼元素的浓度约为1e19/cm3,高温预扩散的工艺温度为1000℃,持续时间为30分钟;第2步、除去硅片上表面顶电极区以外的氧化层;第3步、在硅片上表面淀积厚度为40‑50nm的本征非晶硅层;第4步、将硅片置于湿氧环境中进行高温扩散,使硅片非顶电极区的硼元素扩散入本征非晶硅层,降低硅片非顶电极区硼元素浓度,实现硼元素的逆向扩散;顶电极区氧化层中的硼元素向顶电极区扩散,实现顶电极区的重掺杂,同时本征非晶硅层及非顶电极区的硅片表面被氧化形成氧化层;所述第4步中,高温扩散的工艺温度为900℃,持续时间为30分钟;第5步、去除硅片表面所有的氧化层,完成太阳能电池的逆扩散选择性掺杂。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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