[发明专利]一种通过测量光斑半径变化获得材料热光系数的方法有效

专利信息
申请号: 201510396379.7 申请日: 2015-07-08
公开(公告)号: CN104964929B 公开(公告)日: 2018-03-02
发明(设计)人: 沙金巧;王帆;樊丽娜 申请(专利权)人: 苏州科技学院
主分类号: G01N21/17 分类号: G01N21/17
代理公司: 苏州创元专利商标事务所有限公司32103 代理人: 陶海锋
地址: 215009 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种通过测量光斑半径变化获得材料热光系数的方法,利用一连续高斯激光束作为入射光,经凸透镜会聚到待测样品上,使待测样品产生热透镜效应,所述待测样品处于光路中凸透镜的焦点前面或者后面一定距离,从激光器出射的脉冲激光经凸透镜会聚后,在焦点附近作用到待测样品上,经过样品后,测量样品后的远场位置光斑大小变化获得材料热光系数。本发明通过测量光斑半径变化获得材料热光系数的方法,在不需要能量计及CCD等测量工具的情况,简单而准确地获得材料的热光系数,测量成本低。
搜索关键词: 一种 通过 测量 光斑 半径 变化 获得 材料 系数 方法
【主权项】:
一种通过测量光斑半径变化获得材料热光系数的方法,其特征在于:利用一连续高斯激光束作为入射光,经凸透镜会聚到待测样品上,使待测样品产生热透镜效应,所述待测样品处于光路中凸透镜的焦点前面或者后面,从激光器出射的脉冲激光经凸透镜会聚后,在焦点附近作用到待测样品上,经过样品后,测量样品后的远场位置光斑大小变化获得材料热光系数,具体测量步骤为:(1)在远离凸透镜焦点的位置放上待测样品,接收远场光斑并测量远场光斑的大小;(2)在凸透镜的焦平面附近位置放上待测样品,接收远场光斑并测量远场光斑的大小;(3)对步骤(1)和(2)中获得的光斑尺寸进行处理,获得待测样品材料的热光系数;处理方法为,将步骤(2)中得到的光斑大小与步骤(1)中得到的光斑大小相除,得到光斑大小的比值,对光斑大小的比值进行理论拟合及比较得到材料的热光系数。
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