[发明专利]测试器件和电路布置有效
| 申请号： | 201510400320.0 | 申请日： | 2015-07-09 |
| 公开（公告）号： | CN105242159B | 公开（公告）日： | 2018-08-17 |
| 发明（设计）人： | C.马奎斯马丁斯;A.泰尔;S.蒂勒 | 申请（专利权）人： | 英飞凌科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/01 | 分类号： | G01R31/01 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 王岳;胡莉莉 |
| 地址： | 德国瑙伊比*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 测试器件和电路布置。根据各种实施例的测试器件可包括：多个第一端子，被配置成连接到多个被测试器件，其中，多个第一端子中的每个第一端子可被配置成连接到多个被测试器件中的相应的被测试器件；信号接口，被配置成连接到测试器；以及电路，被配置成通过多个第一端子中的相应的第一端子与多个被测试器件中的每个被测试器件交换相同的第一信号，并通过信号接口与测试器交换至少一个接口信号。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 器件 电路 布置 | ||
【主权项】：
1.一种测试器件，包括：多个第一端子，被配置成连接到多个被测试器件，其中多个第一端子中的每个第一端子被配置成连接到多个被测试器件中的相应的被测试器件；信号接口，被配置成连接到测试器；以及电路，被配置成通过多个第一端子中的相应的第一端子与多个被测试器件中的每个被测试器件交换相同的第一信号，并通过信号接口与测试器交换至少一个接口信号；以及其中所述相同的第一信号包括测试响应信号，其中所述测试响应信号是多个被测试器件中的被测试器件对提供给多个被测试器件中的每个被测试器件的相同测试信号的响应。
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