[发明专利]感测芯片在审

专利信息
申请号: 201510402430.0 申请日: 2015-07-10
公开(公告)号: CN106338496A 公开(公告)日: 2017-01-18
发明(设计)人: 林鼎晸;陈怡萍;陈品诚 申请(专利权)人: 财团法人工业技术研究院
主分类号: G01N21/552 分类号: G01N21/552
代理公司: 北京市柳沈律师事务所11105 代理人: 陈小雯
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明公开一种感测芯片,包括基板;以及多个纳米结构,周期性地排列于基板上,其中每一纳米结构包括底金属层,位于基板上;中间介电层,位于底金属层上;以及顶金属层,位于中间介电层上;其中底金属层的面积大于顶金属层的面积。
搜索关键词: 芯片
【主权项】:
一种感测芯片,包括:基板;以及多个纳米结构,周期性地排列于该基板上,其中每一该些纳米结构包括:底金属层,位于该基板上;中间介电层,位于该底金属层上;以及顶金属层,位于该中间介电层上;其中该顶金属层的面积小于该底金属层的面积。
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