[发明专利]调控SiC纳米阵列密度的方法有效
申请号: | 201510404012.5 | 申请日: | 2015-07-08 |
公开(公告)号: | CN105133017B | 公开(公告)日: | 2016-11-02 |
发明(设计)人: | 王霖;陈善亮;杨为佑 | 申请(专利权)人: | 宁波工程学院 |
主分类号: | C30B29/36 | 分类号: | C30B29/36;C30B1/00;H01J1/304;C01B31/36;B82Y30/00 |
代理公司: | 宁波市鄞州盛飞专利代理事务所(普通合伙) 33243 | 代理人: | 张向飞 |
地址: | 315000 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开的调控SiC纳米阵列密度的方法,包括如下步骤,1)、前躯体准备;基体准备;2)、催化剂沉积:在准备好的基体表面沉积催化剂层;3)、将沉积有催化剂层的基体以及前躯体共同于烧结氛围中烧结,前躯体热解在基体表面形成SiC纳米阵列。本发明公开的制备方法工艺简单,生产方便,便于扩大规模,安全性好,产品质量稳定性好,产品性能稳定。 | ||
搜索关键词: | 调控 sic 纳米 阵列 密度 方法 | ||
【主权项】:
调控SiC纳米阵列密度的方法,其特征在于:包括如下步骤,1)前躯体准备;基体准备;2)催化剂沉积:在准备好的基体表面沉积催化剂层,通过调节催化剂层的厚度实现对SiC纳米阵列的阵列密度的调控,其中催化剂层的厚度范围为40‑100nm,纳米线的阵列密度为(5.0‑6.0)×107根/cm2,所述催化剂层为金层或者铁层或者镍层或者镧层;3)将沉积有催化剂层的基体以及前躯体共同于烧结氛围中烧结,前躯体热解在基体表面形成SiC纳米阵列。
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