[发明专利]调控SiC纳米阵列密度的方法有效

专利信息
申请号: 201510404012.5 申请日: 2015-07-08
公开(公告)号: CN105133017B 公开(公告)日: 2016-11-02
发明(设计)人: 王霖;陈善亮;杨为佑 申请(专利权)人: 宁波工程学院
主分类号: C30B29/36 分类号: C30B29/36;C30B1/00;H01J1/304;C01B31/36;B82Y30/00
代理公司: 宁波市鄞州盛飞专利代理事务所(普通合伙) 33243 代理人: 张向飞
地址: 315000 浙*** 国省代码: 浙江;33
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开的调控SiC纳米阵列密度的方法,包括如下步骤,1)、前躯体准备;基体准备;2)、催化剂沉积:在准备好的基体表面沉积催化剂层;3)、将沉积有催化剂层的基体以及前躯体共同于烧结氛围中烧结,前躯体热解在基体表面形成SiC纳米阵列。本发明公开的制备方法工艺简单,生产方便,便于扩大规模,安全性好,产品质量稳定性好,产品性能稳定。
搜索关键词: 调控 sic 纳米 阵列 密度 方法
【主权项】:
调控SiC纳米阵列密度的方法,其特征在于:包括如下步骤,1)前躯体准备;基体准备;2)催化剂沉积:在准备好的基体表面沉积催化剂层,通过调节催化剂层的厚度实现对SiC纳米阵列的阵列密度的调控,其中催化剂层的厚度范围为40‑100nm,纳米线的阵列密度为(5.0‑6.0)×107根/cm2,所述催化剂层为金层或者铁层或者镍层或者镧层;3)将沉积有催化剂层的基体以及前躯体共同于烧结氛围中烧结,前躯体热解在基体表面形成SiC纳米阵列。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于宁波工程学院,未经宁波工程学院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510404012.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top