[发明专利]一种基于技术手册提取的芯片寄存器自动化仿真验证方法在审
| 申请号： | 201510404189.5 | 申请日： | 2015-07-10 |
| 公开（公告）号： | CN106021037A | 公开（公告）日： | 2016-10-12 |
| 发明（设计）人： | 李坚 | 申请（专利权）人： | 北京中电华大电子设计有限责任公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F17/50 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 102209 北京市昌平区北七家未*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种基于技术手册提取的芯片寄存器自动化仿真验证方法，该方法包括：规范化SOC芯片技术手册并输出；自动提取SOC芯片技术手册中的寄存器特征宏；编写寄存器验证程序框架；根据所述寄存器验证程序框架进行脚本后处理，完成验证激励输出。采用本发明所述的方法，可以提高验证的灵活性，准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 技术 手册 提取 芯片 寄存器 自动化 仿真 验证 方法 | ||
【主权项】：
一种基于技术手册提取的芯片寄存器自动化仿真验证方法，其特征在于，该方法包括：规范化SOC芯片技术手册并输出；自动提取SOC芯片技术手册中的寄存器特征宏；编写寄存器验证程序框架；根据所述寄存器验证程序框架进行脚本后处理，完成验证激励输出。
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