[发明专利]基于量子阱带间跃迁的光电探测器有效
申请号: | 201510404231.3 | 申请日: | 2015-07-10 |
公开(公告)号: | CN105720130B | 公开(公告)日: | 2018-01-30 |
发明(设计)人: | 陈弘;王禄;贾海强;马紫光;江洋;王文新 | 申请(专利权)人: | 中国科学院物理研究所 |
主分类号: | H01L31/12 | 分类号: | H01L31/12;H01L31/0352 |
代理公司: | 北京市正见永申律师事务所11497 | 代理人: | 黄小临,冯玉清 |
地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及基于量子阱带间跃迁的光电探测器。一种光电探测器可包括第一半导体层,其具有第一导电类型;第二半导体层,其具有第二导电类型,所述第二导电类型不同于所述第一导电类型;以及设置在所述第一半导体层和所述第二半导体层之间的光子吸收层,所述光子吸收层包括至少一个量子阱层以及设置在每个所述量子阱层两侧的势垒层。本发明利用半导体PN结对量子阱参与的光电转换过程的调制作用,大幅度提升了基于量子阱材料的光电探测器的电流输出。 | ||
搜索关键词: | 基于 量子 阱带间 跃迁 光电 探测器 | ||
【主权项】:
一种光电探测器,包括:第一半导体层,其具有第一导电类型;第二半导体层,其具有第二导电类型,所述第二导电类型不同于所述第一导电类型;以及设置在所述第一半导体层和所述第二半导体层之间的光子吸收层,所述光子吸收层包括至少一个量子阱层以及设置在每个所述量子阱层两侧的势垒层,其中,所述至少一个量子阱层在吸收光子后生成连续态的光电流,其中:所述第一半导体层、所述第二半导体层和所述势垒层包括GaAs或AlGaAs,所述量子阱层包括选自如下组的材料:应变InGaAs量子阱、InAs量子点、以及InAs/InGaAs量子阱中量子点;或者所述第一半导体层、所述第二半导体层和所述势垒层包括InP或InAlAs,所述量子阱层包括选自如下组的材料:应变InGaAs量子阱、InAs量子点、InAs/InGaAs量子阱中量子点、应变InSb量子阱、InAsSb量子阱;或者所述第一半导体层、所述第二半导体层和所述势垒层包括GaSb,所述量子阱层包括选自如下组的材料:应变InSb量子阱、InAs量子阱、InAsSb量子阱;或者所述第一半导体层、所述第二半导体层和所述势垒层包括Si,所述量子阱层包括选自如下组的材料:Ge量子阱和GeSi量子阱。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的