[发明专利]一种半导体三极管放大倍数脉冲测试方法

摘要

本发明公开了一种半导体三极管放大倍数脉冲测试方法，属于半导体测试领域。其步骤包括：一、设立初始的恒压源电压；二、设立初始基极电流脉冲；三、对恒压源进行补偿；四、对基极电流进行补偿；五、判断静态工作点的准确性；六、设立正确静态工作点的恒压源电压；七、设立正确静态工作点的标准基极脉冲；八、对恒压源进行细微补偿；九、对基极电流进行细微补偿；十、计算放大倍数平均值。本发明能够在相关规定的时间内完成脉冲测试，极大的减少了管芯升温，并且本方法不是硬件闭环测试方法，将不易产生寄生振荡，且在技术上容易实现，成本低。

主权项

1.一种用于测试半导体三极管的放大倍数的测试方法，其特征在于，至少包括以下步骤：步骤一、由CPU控制DAC设置集电极电压源其中为所述三极管所需要的实际集电极‑发射极电压；步骤二、设立初始基极电流脉冲：1)CPU控制DAC设置一个基极电流源脉冲IB，用于探测被测管的大致放大倍数，脉冲IB的宽度由CPU控制，直至集电极电流IC上升并稳定；2)在脉冲期间CPU通过ADC读取集电极‑发射极电压、基极电流和集电极电流的值，分别记为步骤三、对恒压源进行补偿：CPU控制DAC设置补偿后的集电极电压源其中i为探测脉冲的个数；步骤四、对基极电流进行补偿：1)CPU控制DAC设置一个基极电流脉冲其中为所述三极管所需要的实际集电极电流，连续两个脉冲的占空比为2％，宽度与第一个基极电流脉冲相同；2)在脉冲期间CPU通过ADC读取集电极‑发射极电压、基极电流和集电极电流的值，记为与步骤五、判断静态工作点的准确性：1)CPU判断和的值是否小于根据测试精度所给定的设定值，如有一项不符合，重新进行步骤三和步骤四；2)如和的值均小于根据测试精度所给定的设定值，则记录此时的集电极‑发射极电压、基极电流和集电极电流的值步骤六、设立正确静态工作点的恒压源电压：CPU控制DAC设置恒压源步骤七、设立正确静态工作点的标准基极脉冲：1)CPU控制DAC设置一个脉冲宽度为250μS至350μS之间的基极电流脉冲2)在脉冲期间读取集电极‑发射极电压、基极电流和集电极电流的平均值，记为与步骤八、对恒压源进行细微补偿：CPU控制DAC设置补偿后的恒流源其中j为步骤七中的基极测量脉冲的个数；步骤九、对基极电流进行细微补偿：1)设置一个基极电流脉冲宽度为250μS至350μS之间的基极电流脉冲连续两个脉冲的占空比为2％；2)在脉冲期间CPU通过ADC读取集电极‑发射极电压、基极电流和集电极电流的平均值，记为步骤十、计算放大倍数平均值：(n为重复进行步骤八和步骤九的次数)。