[发明专利]一种芯片温度检测和控制方法与装置在审
| 申请号： | 201510404493.X | 申请日： | 2015-07-10 |
| 公开（公告）号： | CN106339011A | 公开（公告）日： | 2017-01-18 |
| 发明（设计）人： | 安英杰;王魏;卢海涛 | 申请（专利权）人： | 深圳市中兴微电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G05D23/20 | 分类号： | G05D23/20 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理有限公司11270 | 代理人： | 高洁,张颖玲 |
| 地址： | 518085 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种芯片温度检测和控制方法，包括检测芯片的温度信息，将所述温度信息转换成电压信息；对所述电压信息进行量化和校准；所根据所述量化和校准后的电压信息，控制芯片的工作状态。本发明还提供了一种芯片温度检测和控制装置。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 温度 检测 控制 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种芯片温度检测和控制方法，其特征在于，所述方法包括：检测芯片的温度信息，将所述温度信息转换成电压信息；对所述电压信息进行量化和校准；所根据所述量化和校准后的电压信息，控制芯片的工作状态。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市中兴微电子技术有限公司，未经深圳市中兴微电子技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201510404493.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
