[发明专利]一种基于TDC芯片技术的数字化电容式物位计

摘要

本发明公开了一种基于TDC芯片技术的数字化电容式物位计，包括：数字传感单元、微控制器单元、通讯或输出单元和机械结构件，所述数字传感单元、微控制器单元和通讯或输出单元均设于机械结构件中，本发明中所述的基于TDC芯片技术的数字化电容式物位计，通过将TDC测量单元与数据逻辑处理器连接，通过数字化TDC应用信号通过内逻辑门的延迟时间来高精度的测量时间间隔，通过简单的电路结构和特殊的电路板布线方法使芯片可以非常精确的重新建构信号通过逻辑门数，其最高精度取决于芯片的最大逻辑门延迟时间，比传统的模拟电路测量电容的方法分辨率提高了1000个数量级以上，抗干扰能力提高了10倍以上，从而很好的解决了抗强辐射干扰等问题，从而更好的满足了客户的需求。

主权项

1.一种基于TDC芯片技术的数字化电容式物位计，其特征在于：包括：数字传感单元（1）、微控制器单元（2）、通讯或输出单元（3）和机械结构件，所述数字传感单元（1）、微控制器单元（2）和通讯或输出单元（3）均设于机械结构件中，其中，所述的数字传感单元（1）包括由电容测量单元（4）、TDC测量单元（5）、温度测量单元（6）、数据逻辑处理器（7）、顺序ALU单元（8）、结果和状态寄存器（9）、控制和模式寄存器（10）、微处理器接口单元（11）和补偿电路构成，所述的电容测量单元（4）由RLC测量单元（41）和RLC计数器（42）构成，所述的RLC测量单元（41）与TDC测量单元（5）连接，所述RLC计数器（42）的两端分别与TDC测量单元（5）和顺序ALU单元（8）连接，所述TDC测量单元（5）与温度测量单元（6）和数据逻辑处理器（7），所述温度测量单元（6）还与控制和模式寄存器（10）连接，所述数据逻辑处理器（7）还与顺序ALU单元（8）和结果和状态寄存器（9）连接，所述的结果和状态寄存器（9）和控制和模式寄存器（10）均与微处理器接口单元（11）的输入端连接，所述微处理器接口单元（11）的输出端与微控制器单元（2）输入端连接，所述微控制器单元（2）的输出端与通讯或输出单元（3）的输入端连接，且其内还设有8位数据总线、4位控制线和地址锁存线。