[发明专利]一种预测卫星热控涂层在轨性能退化的方法有效

专利信息
申请号: 201510408521.5 申请日: 2015-07-13
公开(公告)号: CN105005657B 公开(公告)日: 2018-06-26
发明(设计)人: 廖明;张雷;曹敏;李强;陶强;徐涛;周洪伟 申请(专利权)人: 上海卫星工程研究所
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 代理人: 郭国中
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种预测卫星热控涂层在轨性能退化的方法,其包括如下步骤:S1:建立卫星在轨运行时的热控涂层材料的热平衡方程:(1);S2:提取在轨卫星的热控涂层附近每天的温度遥测数据;S3:将S、Er0、Ei0、εh、T、代入公式(1),利用得到每一天的αS值;S4:绘制αS随在轨时间的变化曲线;S5:利用αS随时间变化的特性建立数学模型:为在轨初期的太阳吸收率;a、b、c为常数,根据不同热控涂层材料在轨衰减特性拟合得到。
搜索关键词: 热控涂层 性能退化 卫星在轨运行 热平衡方程 随时间变化 太阳吸收率 变化曲线 数学模型 衰减特性 温度遥测 在轨卫星 卫星 预测 拟合 绘制
【主权项】:
1.一种预测卫星热控涂层在轨性能退化的方法,其特征在于,包括如下步骤:S1:建立卫星在轨运行时的热控涂层材料的热平衡方程:αS为热控涂层的太阳吸收率;S为太阳常数,每天的值根据WMO参考数据选取;为太阳对热控涂层的角系数;Er0为地球表面太阳反射强度;为地球反射对热控涂层的角系数;Ei0为地球表面平均红外辐射强度;为地球红外辐射对热控涂层的角系数;εh为热控涂层的半球向红外辐射率,对于选定的热控涂层在轨不变;σ为斯‑玻常数,σ=5.67×10‑8W/m2·K4;T为热控涂层的温度,单位为K;S2:提取在轨卫星的热控涂层附近每天的温度遥测数据,具体原则是:选取每天温度数据峰值稳定在一段时间内的峰值数据;S3:将S、Er0、Ei0、εh、T、代入公式(1),利用得到每一天的αS值;S4:绘制αS随在轨时间的变化曲线;S5:利用αS随时间变化的特性建立数学模型,αS(0)为在轨初期的太阳吸收率;a、b、c为常数,根据不同热控涂层材料在轨衰减特性拟合得到。
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