[发明专利]集成电路扫描单元的替换方法、可偏移扫描单元及集成电路有效
| 申请号： | 201510410434.3 | 申请日： | 2015-07-14 |
| 公开（公告）号： | CN105259493B | 公开（公告）日： | 2018-06-01 |
| 发明（设计）人： | 廖仁亿;杨任航 | 申请（专利权）人： | 联发科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京市万慧达律师事务所 11111 | 代理人： | 白华胜;段晓玲 |
| 地址： | 中国台湾新竹科*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种集成电路扫描单元的替换方法、可偏移扫描单元及集成电路。其中，该集成电路扫描单元的替换方法包括：获取该集成电路的门级网络列表；在该门级网络列表上执行位置‑路线过程以获取第一网络列表；在该第一网络列表上执行时钟树合成过程以获取第二网络列表；执行静态时序分析以分析在普通模式和扫描模式中该第二网络列表的第一扫描单元，其中，在该第一扫描单元中对称地调整该普通模式的第一偏移和该扫描模式的第二偏移，在该第二扫描单元中不对称地调整该普通模式的第一偏移和该扫描模式的第二偏移。本发明提供的集成电路扫描单元的替换方法可有效减少用于IC芯片的测试时间和成本。 | ||
| 搜索关键词： | 扫描单元 集成电路 替换 扫描模式 网络 第一偏移 可偏移 偏移 静态时序分析 时钟树合成 有效减少 不对称 对称 测试 分析 | ||
【主权项】：
1.一种集成电路扫描单元的替换方法，该方法包括：获取该集成电路的门级网络列表；在该门级网络列表上执行位置-路线过程以获取第一网络列表；在该第一网络列表上执行时钟树合成过程以获取第二网络列表；执行静态时序分析以分析在普通模式和扫描模式中该第二网络列表的第一扫描单元，其中，该第一扫描单元形成扫描链；以及根据该静态时序分析以第二扫描单元替换该第一扫描单元，其中，该静态时序分析指示该被替换的该第一扫描单元在该扫描模式中具有特定的时间空余；其中，在该第一扫描单元中对称地调整该普通模式的第一偏移和该扫描模式的第二偏移，在该第二扫描单元中不对称地调整该普通模式的第一偏移和该扫描模式的第二偏移。
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