[发明专利]平均磨损方法、存储器控制电路单元及存储器储存装置有效
| 申请号： | 201510411126.2 | 申请日： | 2015-07-14 |
| 公开（公告）号： | CN106354651B | 公开（公告）日： | 2020-05-26 |
| 发明（设计）人： | 陈国荣 | 申请（专利权）人： | 群联电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F12/02 | 分类号： | G06F12/02;G06F3/06 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 马雯雯;臧建明 |
| 地址： | 中国台湾*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种平均磨损方法、存储器控制电路单元及存储器储存装置。本方法包括：根据实体抹除单元之中存有有效数据的实体抹除单元的程序化顺序将存有有效数据的每一实体抹除单元记录时间标记，以及将每一实体抹除单元记录抹除次数。本方法还包括：根据时间标记从存有有效数据的实体抹除单元中选择第一实体抹除单元，根据每一实体抹除单元配置的抹除次数从没有存有有效数据的实体抹除单元之中提取第二实体抹除单元，以及将第一实体抹除单元中的有效数据写入第二实体抹除单元，并且将第一实体抹除单元标记为没有存有有效数据的实体抹除单元。如此一来，实体抹除单元的磨损程度更为平均且延长了存储器储存系统的寿命。 | ||
| 搜索关键词： | 平均 磨损 方法 存储器 控制电路 单元 储存 装置 | ||
【主权项】：
一种平均磨损方法，其特征在于，用于可复写式非易失性存储器模块，所述可复写式非易失性存储器模块包括多个实体抹除单元，所述平均磨损方法包括：根据该些实体抹除单元之中存有有效数据的实体抹除单元的程序化顺序将存有有效数据的每一实体抹除单元记录时间标记；将每一该些实体抹除单元记录抹除次数；根据所述时间标记从存有有效数据的该些实体抹除单元中选择第一实体抹除单元；根据每一该些实体抹除单元记录的所述抹除次数从没有存有有效数据的实体抹除单元中提取第二实体抹除单元；以及将所述第一实体抹除单元中的有效数据写入所述第二实体抹除单元，并且将所述第一实体抹除单元标记为没有存有有效数据的实体抹除单元。
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