[发明专利]一种三维激光扫描装置的系统参数校准方法有效
申请号: | 201510411596.9 | 申请日: | 2015-07-14 |
公开(公告)号: | CN104990501B | 公开(公告)日: | 2018-01-26 |
发明(设计)人: | 孙志刚;王振;付忠敏;肖力;王卓 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心42201 | 代理人: | 曹葆青 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明公开了一种三维激光扫描装置的系统参数校准方法,由于激光扫描装置系统参数在测量时存在固有的机械安装与测量误差,每个参数都需要在测量值的基础上进行微调。本发明公开了一种获取系统参数微调量的可靠方法。首先,通过三维激光扫描装置获取标准平面标靶的点云模型,然后,确定一个评价指数作为点云模型精度的度量,使得系统参数的微调量与点云模型精度度量成函数关系;最后,运用模式搜索方法寻找一组能够使点云模型精度最高即精度度量值取到最优值的系统参数微调量,这组微调量就是最优的系统参数微调量。结果表明,系统参数在使用这种方法进行校准之后,扫描装置扫描三维空间场景获取的点云数据的精度得到了有效提升。 | ||
搜索关键词: | 一种 三维 激光 扫描 装置 系统 参数 校准 方法 | ||
【主权项】:
一种三维激光扫描装置的系统参数校准方法,其特征在于,包括下列步骤:S1:使用三维激光扫描装置扫描制作好的标准平面标靶,采集点云数据,并根据该点云数据建立该标靶的原始点云模型;S2:建立一个点云模型的评价指数,作为系统模型精度的度量值,使得系统参数微调量与模型精度度量值成函数关系;S3:运用模式搜索方法寻找一组能够使步骤S1获取的标靶模型精度最高,即步骤S2中建立的模型精度度量值取到最大值或者最小值的系统参数微调量,这组参数微调量就是要寻找的最优的参数微调量。
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