[发明专利]集成电路测试系统与方法有效
| 申请号： | 201510413124.7 | 申请日： | 2015-07-14 |
| 公开（公告）号： | CN105116317B | 公开（公告）日： | 2017-12-05 |
| 发明（设计）人： | 王力纬;何春华;侯波;恩云飞;谢少锋 | 申请（专利权）人： | 工业和信息化部电子第五研究所 |
| 主分类号： | G01R31/3167 | 分类号： | G01R31/3167 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司44224 | 代理人： | 李巍 |
| 地址： | 510610 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种集成电路测试系统，包括自动测试单元，测试接口单元，嵌入在待测芯片上的片上测试单元，片上测试单元包括通路选择模块、采样保持模块以及校准模块，待测芯片通过所述测试接口单元与自动测试单元相连接，自动测试单元产生测试向量以及通路控制信号并传输给测试接口单元；通路选择模块接收经测试接口单元转接的通路控制信号，并基于通路控制信号向采样保持模块或校准模块输出通路选择信号。本发明实现了对高速(如GHz)待测芯片的测试；另外仅需测试接口单元完成自动测试单元与待测芯片的电气连接，实现待测芯片与现有集成电路测试流程的集成，从而提高了测试效率降低了测试开销。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种集成电路测试系统，包括自动测试单元，其特征在于，还包括测试接口单元，嵌入在待测芯片上的片上测试单元，所述片上测试单元包括通路选择模块、采样保持模块以及校准模块，所述待测芯片通过所述测试接口单元与所述自动测试单元相连接，所述自动测试单元产生测试向量以及通路控制信号并传输给所述测试接口单元；所述通路选择模块接收经所述测试接口单元转接的所述通路控制信号，并基于所述通路控制信号向所述采样保持模块或所述校准模块输出通路选择信号；所述采样保持模块在接收到所述通路选择信号时，对所述待测芯片基于所述测试接口单元转接的所述测试向量发出的旁路信号进行采样和保持，并将采样和保持的所述旁路信号传输给所述校准模块；所述校准模块对接收到的所述待测芯片发出的旁路信号进行放大，并将放大后的所述旁路信号通过所述测试接口单元传输给所述自动测试单元。
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