[发明专利]基于导电聚合物纳米孔集成结构的纳米孔检测系统及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201510413263.X 申请日: 2015-07-14
公开(公告)号: CN104950031B 公开(公告)日: 2017-08-04
发明(设计)人: 王赟姣;王德强;应翠凤;艾必燕;杜春雷 申请(专利权)人: 中国科学院重庆绿色智能技术研究院
主分类号: G01N27/416 分类号: G01N27/416;B82Y40/00
代理公司: 北京同恒源知识产权代理有限公司11275 代理人: 廖曦
地址: 400714 *** 国省代码: 重庆;85
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摘要: 发明涉及一种基于导电聚合物纳米孔集成结构的纳米孔检测系统及其制备方法,该系统包括电解质溶液腔室、导电聚合物纳米孔集成结构和电流检测系统;导电聚合物纳米孔集成结构包括设置有纳米孔的纳米孔层薄膜和具有微纳结构的导电聚合物薄膜;导电聚合物纳米孔集成结构设置于电解质溶液腔室内部并将其分成上腔室和下腔室形成通道;电流检测系统设置于上和下腔室内。本发明通过对固态纳米孔进行简单的化学修饰,将导电聚合物和纳米孔进行集成,利用形成的多孔微纳结构使长链聚合物在穿过纳米孔前的运动路径复杂化,结合导电聚合物与长链聚合物分子间的静电作用力,减缓甚至控制长链聚合物在纳米孔中的传输速度,有效提高了纳米孔检测长链状聚合物的可靠性。
搜索关键词: 基于 导电 聚合物 纳米 集成 结构 检测 系统 及其 制备 方法
【主权项】:
一种基于导电聚合物纳米孔集成结构的纳米孔检测系统,其特征在于:包括电解质溶液腔室、导电聚合物纳米孔集成结构和用于检测长链聚合物的电流检测系统;所述导电聚合物纳米孔集成结构包括纳米孔层薄膜和紧贴于纳米孔层薄膜上的导电聚合物薄膜,所述纳米孔层薄膜上设置有纳米孔;所述导电聚合物薄膜具有微纳米孔隙结构;所述导电聚合物纳米孔集成结构设置于电解质溶液腔室内部并将其分成上腔室和下腔室,所述纳米孔和导电聚合物薄膜中的微纳米孔隙结构形成连通上腔室和下腔室的通道;所述电流检测系统包括电源、电极Ⅰ、电极Ⅱ和电流计;所述电极Ⅰ和电极Ⅱ分别置于上腔室和下腔室内;电源、电极Ⅰ、电极Ⅱ和电流计串联形成用于检测待检测物的电路。
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