[发明专利]TFT基板结构及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201510413558.7 申请日: 2015-07-14
公开(公告)号: CN104966720B 公开(公告)日: 2018-06-01
发明(设计)人: 吕晓文 申请(专利权)人: 深圳市华星光电技术有限公司
主分类号: H01L27/12 分类号: H01L27/12;H01L21/77
代理公司: 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 代理人: 林才桂
地址: 518132 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供一种TFT基板结构及其制作方法。本发明的TFT基板结构,在非晶硅层与金属层之间设有N型轻掺杂非晶硅层与N型重掺杂非晶硅层,形成掺杂的浓度梯度,使得金属层和非晶硅层间的能量势垒较低,使电子注入更加容易,同时在不降低工作电流的前提下降低漏电流,改善了TFT的电性。本发明的TFT基板结构的制作方法,通过在非晶硅层与金属层之间形成N型轻掺杂非晶硅层与N型重掺杂非晶硅层,形成掺杂的浓度梯度,有效降低了金属层和非晶硅层间的能量势垒,使电子注入更加容易,同时在不降低工作电流的前提下降低漏电流,改善了TFT的电性。
搜索关键词: 非晶硅层 金属层 电子注入 工作电流 能量势垒 浓度梯度 掺杂的 漏电流 电性 制作
【主权项】:
1.一种TFT基板结构的制作方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1、提供基板(10),在所述基板(10)上沉积第一金属层,并对所述第一金属层进行图案化处理,形成栅极(20);步骤2、在所述基板(10)上沉积栅极绝缘层(30),所述栅极绝缘层(30)覆盖所述栅极(20);步骤3、在所述栅极绝缘层(30)上采用化学气相沉积方法依次沉积非晶硅层(41)、N型轻掺杂非晶硅层(42)、及N型重掺杂非晶硅层(43);步骤4、采用一道光刻制程对所述非晶硅层(41)、N型轻掺杂非晶硅层(42)、及N型重掺杂非晶硅层(43)进行图案化处理,得到位于所述栅极(20)上方的岛状半导体层(40),所述岛状半导体层(40)包括对应所述栅极20上方的非晶硅层(41)、N型轻掺杂非晶硅层(42)、及N型重掺杂非晶硅层(43);步骤5、在所述栅极绝缘层(30)、及岛状半导体层(40)上沉积第二金属层(50),然后所述第二金属层(50)上涂布一光阻层(60),采用一道光罩对所述光阻层(60)进行曝光、显影,在所述光阻层(60)上形成一位于中间位置且贯通前后的条形通道(61);步骤6、以所述光阻层(60)为遮挡,对所述第二金属层(50)进行湿蚀刻制程,得到分别对应所述条形通道(61)两侧的源极(51)与漏极(52);步骤7、以所述光阻层(60)、及源、漏极(51、52)为刻蚀阻挡层,对所述岛状半导体层(40)进行干蚀刻制程,在所述岛状半导体层(40)上形成一对应所述条形通道(61)的U型槽(44),所述U型槽(44)贯穿所述N型轻掺杂非晶硅层(42)、及N型重掺杂非晶硅层(43),将所述N型重掺杂非晶硅层(43)分为位于U型槽(44)两侧的第一、第二N型重掺杂非晶硅层(431、432),将所述N型轻掺杂非晶硅层(42)分为位于U型槽(44)两侧的第一、第二N型轻掺杂非晶硅层(421、422),在所述非晶硅层(41)上对应于U型槽(44)下方的位置形成沟道(415);所述源极(51)与漏极(52)分别与所述第一、第二N型重掺杂非晶硅层(431、432)的表面相接触;完成对所述岛状半导体层(40)的干蚀刻制程之后,剥离位于源、漏极(51、52)上方的光阻层(60)。
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