[发明专利]TFT基板结构及其制作方法有效
申请号: | 201510413558.7 | 申请日: | 2015-07-14 |
公开(公告)号: | CN104966720B | 公开(公告)日: | 2018-06-01 |
发明(设计)人: | 吕晓文 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12;H01L21/77 |
代理公司: | 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 | 代理人: | 林才桂 |
地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供一种TFT基板结构及其制作方法。本发明的TFT基板结构,在非晶硅层与金属层之间设有N型轻掺杂非晶硅层与N型重掺杂非晶硅层,形成掺杂的浓度梯度,使得金属层和非晶硅层间的能量势垒较低,使电子注入更加容易,同时在不降低工作电流的前提下降低漏电流,改善了TFT的电性。本发明的TFT基板结构的制作方法,通过在非晶硅层与金属层之间形成N型轻掺杂非晶硅层与N型重掺杂非晶硅层,形成掺杂的浓度梯度,有效降低了金属层和非晶硅层间的能量势垒,使电子注入更加容易,同时在不降低工作电流的前提下降低漏电流,改善了TFT的电性。 | ||
搜索关键词: | 非晶硅层 金属层 电子注入 工作电流 能量势垒 浓度梯度 掺杂的 漏电流 电性 制作 | ||
【主权项】:
1.一种TFT基板结构的制作方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1、提供基板(10),在所述基板(10)上沉积第一金属层,并对所述第一金属层进行图案化处理,形成栅极(20);步骤2、在所述基板(10)上沉积栅极绝缘层(30),所述栅极绝缘层(30)覆盖所述栅极(20);步骤3、在所述栅极绝缘层(30)上采用化学气相沉积方法依次沉积非晶硅层(41)、N型轻掺杂非晶硅层(42)、及N型重掺杂非晶硅层(43);步骤4、采用一道光刻制程对所述非晶硅层(41)、N型轻掺杂非晶硅层(42)、及N型重掺杂非晶硅层(43)进行图案化处理,得到位于所述栅极(20)上方的岛状半导体层(40),所述岛状半导体层(40)包括对应所述栅极20上方的非晶硅层(41)、N型轻掺杂非晶硅层(42)、及N型重掺杂非晶硅层(43);步骤5、在所述栅极绝缘层(30)、及岛状半导体层(40)上沉积第二金属层(50),然后所述第二金属层(50)上涂布一光阻层(60),采用一道光罩对所述光阻层(60)进行曝光、显影,在所述光阻层(60)上形成一位于中间位置且贯通前后的条形通道(61);步骤6、以所述光阻层(60)为遮挡,对所述第二金属层(50)进行湿蚀刻制程,得到分别对应所述条形通道(61)两侧的源极(51)与漏极(52);步骤7、以所述光阻层(60)、及源、漏极(51、52)为刻蚀阻挡层,对所述岛状半导体层(40)进行干蚀刻制程,在所述岛状半导体层(40)上形成一对应所述条形通道(61)的U型槽(44),所述U型槽(44)贯穿所述N型轻掺杂非晶硅层(42)、及N型重掺杂非晶硅层(43),将所述N型重掺杂非晶硅层(43)分为位于U型槽(44)两侧的第一、第二N型重掺杂非晶硅层(431、432),将所述N型轻掺杂非晶硅层(42)分为位于U型槽(44)两侧的第一、第二N型轻掺杂非晶硅层(421、422),在所述非晶硅层(41)上对应于U型槽(44)下方的位置形成沟道(415);所述源极(51)与漏极(52)分别与所述第一、第二N型重掺杂非晶硅层(431、432)的表面相接触;完成对所述岛状半导体层(40)的干蚀刻制程之后,剥离位于源、漏极(51、52)上方的光阻层(60)。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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