[发明专利]YAG材料中掺杂元素Nd的激光剥蚀-电感耦合等离子体质谱定量分析方法

摘要

本发明涉及YAG材料中掺杂元素Nd的激光剥蚀-电感耦合等离子体质谱定量分析方法，包括：1）制备Nd含量不同的Nd：YAG固体标准样品；2）采用电感耦合等离子体原子发射光谱法ICP-AES，测定各个Nd：YAG固体标准样品中Nd的准确含量；3）采用LA-ICP-MS联用仪器，分别测定步骤1）中制备的各个Nd：YAG固体标准样品的响应信号强度；4）采用步骤2）中测量的各个Nd：YAG固体标准样品中Nd的准确含量、以及步骤3）中测量的各个Nd：YAG固体标准样品的响应信号强度，绘制反映Nd的准确含量与响应信号强度之间关系的标准工作曲线；5）采用LA-ICP-MS联用仪器，测定待测Nd：YAG固体标准样品的响应信号强度，并根据Nd标准工作曲线，得出待测Nd：YAG固体标准样品中Nd的准确含量。

主权项

一种YAG材料中掺杂元素Nd的激光剥蚀‑电感耦合等离子体质谱定量分析方法，其特征在于，所述定量分析方法包括：1）制备若干Nd含量不同的Nd：YAG固体标准样品，其中，Nd在Nd：YAG固体标准样品中均匀分布；2）采用电感耦合等离子体原子发射光谱法ICP‑AES，测定各个Nd：YAG固体标准样品中Nd的准确含量；3）采用LA‑ICP‑MS联用仪器，分别测定步骤1）中制备的各个Nd：YAG固体标准样品的响应信号强度；4）采用步骤2）中测量的各个Nd：YAG固体标准样品中Nd的准确含量、以及步骤3）中测量的各个Nd：YAG固体标准样品的响应信号强度，绘制反映Nd的准确含量与响应信号强度之间关系的标准工作曲线；5）采用LA‑ICP‑MS联用仪器，测定待测Nd：YAG固体标准样品的响应信号强度，并根据Nd标准工作曲线，得出待测Nd：YAG固体标准样品中Nd的准确含量。