[发明专利]集成非极性GaN纳米线高电子迁移率晶体管及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201510415917.2 申请日: 2015-07-15
公开(公告)号: CN105161532A 公开(公告)日: 2015-12-16
发明(设计)人: 李述体;宋伟东;李凯;王汝鹏 申请(专利权)人: 华南师范大学
主分类号: H01L29/778 分类号: H01L29/778;H01L29/06;H01L21/335
代理公司: 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 代理人: 胡辉
地址: 510006 广东*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了集成非极性GaN纳米线高电子迁移率晶体管及其制备方法,包括衬底和位于衬底上的绝缘介质层,所述衬底表面为多个方形台面间隔排列,所述方形台面上刻蚀有多个凹槽,所述多个凹槽长度与方形台面内分别生长有异质结纳米线,所述绝缘介质层上形成有源极和漏极,所述源极和漏极分别位于异质结纳米线的两端并与分别与各异质结纳米线连接,所述源极和漏极之间形成有栅极,所述栅极与异质结纳米线之间设有栅介质层。本发明能将外延生长与器件的制备有机统一,大大简化了工艺步骤,优化了工艺方法。本发明解决了当前纳米线晶体管采用溶液稀释涂覆带来的不可控性及无序性,有效提高了纳米线晶体管制备的成功率。本发明可广泛应用于半导体领域。
搜索关键词: 集成 极性 gan 纳米 电子 迁移率 晶体管 及其 制备 方法
【主权项】:
集成非极性GaN纳米线高电子迁移率晶体管,其特征在于:包括衬底和形成在衬底上间隔排列的多个方形台面,各所述方形台面上设有绝缘介质层,所述绝缘介质层上刻蚀有多个贯穿方形台面侧边的凹槽,各所述凹槽内分别生长有异质结纳米线,所述绝缘介质层上形成有源极和漏极,所述源极和漏极分别位于异质结纳米线的两端并与分别与各异质结纳米线连接,所述源极和漏极之间形成有栅极,所述栅极与异质结纳米线之间设有栅介质层。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华南师范大学,未经华南师范大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510415917.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top