[发明专利]基于透波机制的有耗媒质介电常数的测量方法有效
申请号: | 201510418512.4 | 申请日: | 2015-07-16 |
公开(公告)号: | CN104931797B | 公开(公告)日: | 2017-08-25 |
发明(设计)人: | 郭良帅;梁子长;方金鹏;张元 | 申请(专利权)人: | 上海无线电设备研究所 |
主分类号: | G01R27/26 | 分类号: | G01R27/26 |
代理公司: | 上海信好专利代理事务所(普通合伙)31249 | 代理人: | 徐雯琼,张妍 |
地址: | 200090 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种基于透波机制的有耗媒质介电常数的测量方法,包含S1、测量由发射天线空间直线传播至接收天线的时域电磁波响应信号;S2、在收发天线之间放置待测目标媒质,测量通过待测目标媒质直线传播至接收天线的时域电磁波响应信号;S3、将在放置待测目标媒质前后测量的时域信号变换到频域上,得到相位差和幅度比值分别随频率的变化曲线;S4、仿真建模,计算出相位差和幅度比值分别随媒质介电常数的变化曲线;S5、根据S3和S4对比得到待测目标媒质的相对介电常数。本发明利用时域窄脉冲信号在有耗媒质中传播时,相位差和幅度比值分别与相对介电常数具有对应关系,结合仿真建模测量相对介电常数,有效提高测量精度,降低测量成本。 | ||
搜索关键词: | 基于 机制 媒质 介电常数 测量方法 | ||
【主权项】:
一种基于透波机制的有耗媒质介电常数的测量方法,其特征在于,包含以下步骤:S1、测量由发射天线空间直线传播至接收天线的时域电磁波响应信号;S2、在发射天线和接收天线之间放置待测目标媒质,测量由发射天线通过待测目标媒质直线传播至接收天线的时域电磁波响应信号;S3、通过添加时间窗Γ函数对发射天线和接收天线之间空间直线传播的时域电磁波响应信号和通过待测目标媒质直线传播的时域电磁波响应信号进行去噪处理;对在放置待测目标媒质前后两次测量得到的去噪后的时域电磁波响应信号进行傅里叶变换,将时域电磁波信号变换到频域上,分别取对应频点上的幅度比和相位差,得到相位差和幅度比值分别随频率的变化曲线;其中,时间窗Γ函数为:其中,τ为时域电磁波响应信号的时间宽度,t0为时域电磁波响应信号第一个波形开始的时刻位置;且所述的时域电磁波响应信号的时间宽度τ需要满足:Rc+τ<2R2oh+(R/2)2c;]]>其中,R表示发射天线和接收天线之间的距离,Roh表示发射天线和接收天线的中心点距离地面的高度,c表示电磁波信号的传播速度;S4、仿真建模,计算出因加入待测目标媒质而引起的相位差和幅度比值分别随媒质介电常数的变化曲线;S5、根据S3中经测量得到的相位差和幅度比值分别随频率的变化曲线,以及S4中经仿真得到的相位差和幅度比值分别随媒质介电常数的变化曲线,对比得到待测目标媒质的相对介电常数。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海无线电设备研究所,未经上海无线电设备研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510418512.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种出线负荷三相集成保护调控方法
- 下一篇:一种直流电阻测试仪装置