[发明专利]一种传送带样品自动化取样及多元素检测的系统与方法在审

专利信息
申请号: 201510419133.7 申请日: 2015-07-16
公开(公告)号: CN105891524A 公开(公告)日: 2016-08-24
发明(设计)人: 李会泉;陈波;李强;张文娟 申请(专利权)人: 中国科学院过程工程研究所
主分类号: G01N35/00 分类号: G01N35/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明是一种针对粉状固体物料传送带,进行物料自动取样、送样及元素含量检测的技术,涉及固体废弃物综合利用、化学分析、工业自动化控制技术领域。本发明是以X荧光技术及工业自动控制技术、机器人技术为基础,以设计的PLC控制系统为核心,通过对机器臂的精确控制与定位,从传送带上采集所需样品,并进行简单处理后送至X荧光发射器位置;然后PLC控制X荧光发射及探测器开始测试,并读取测试结果。同现有技术相比,本发明方法具有适应面广、多元素同时检测且测试时间短、全自动无人值守等优点,可用于钢铁冶金、有色冶金、能源生产、煤化工等行业。
搜索关键词: 一种 传送带 样品 自动化 取样 多元 检测 系统 方法
【主权项】:
一种传送带样品自动化取样及多元素检测的系统,包括如下部件:(1)取料装置取料装置负责监测传送带样品状态,负责从传送带上采集粉末样品,取样器包含取样勺、鼓风系统、吹扫系统、刮平系统、皮带来样速度传感系统等;(2)送样装置送样系统负责将采得的样品从传送带送到XRF荧光仪检测仓,并在检测完成后,将样品送回传送带;送样装置采用导轨传送的方式,含配装保护器,可调节传送目标位置;(3)多元素测试系统利用X荧光技术,通过控制电路,控制X荧光仪自动开始检测;利用定时器控制测试时间,测试时间可自由调节;增设X荧光仪设备箱及其底盖进行防尘保护,设备箱底盖在测试开始前打开,测试结束时自动关闭;(4)防护及PLC控制装置防护及控制装置负责各部件动作保护,防尘以及动作指令的控制;PLC控制系统负责根据现场控制提醒,直接控制多元素检测设备的运行,控制X荧光仪的运行,检查设备运行状态,并将设备运行状态反馈给现场控制提醒;(5)现场控制系统与控制中心控制系统现场控制系统负责依据预定检测方案或控制中心指令,定时启动检测,将检测方案转化为PLC指令,接收PLC反馈信息,负责从荧光仪存储系统中读取检测结果,并将结果集设备运行状态发送回控制中心;控制中心控制系统实现对多元素检测设备的远程控制,处理分析设备返回结果,制定控制预案;控制中心负责保存设备历史检测结果,并模拟再现远程系统的运行情况。
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