[发明专利]设备测试方法及装置在审

专利信息
申请号: 201510419512.6 申请日: 2015-07-16
公开(公告)号: CN105183631A 公开(公告)日: 2015-12-23
发明(设计)人: 沈建荣;谭国斌;马哲;窦锦帅 申请(专利权)人: 小米科技有限责任公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 代理人: 逯长明;许伟群
地址: 100085 北京市海淀区清*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明实施例公开了设备测试方法及装置,第一待测试设备监控到测试操作后,获取该测试操作,并将该测试操作发送给同步测试服务器;由同步测试服务器将所述测试操作发送给其它待测试设备,以使其他待测试设备根据同步测试服务器发送的测试操作完成测试得到测试结果;同时,第一待测试设备执行该测试操作并得到测试结果。利用该方法对多个待测试设备进行测试时,只需要在其中一台待测试设备(即,第一待测试设备)上进行测试操作,不需要在每个待测试设备上都进行一次同样的测试操作,从而提高了测试效率,同时,能够降低人工测试成本。
搜索关键词: 设备 测试 方法 装置
【主权项】:
一种设备测试方法,其特征在于,包括:监控是否有测试操作;如果监控到测试操作,则获取所述测试操作,并将所述测试操作发送给同步测试服务器,以使所述同步测试服务器将所述测试操作发送给其它待测试设备进行测试;根据所述测试操作完成测试并生成测试结果。
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