[发明专利]混合分形插值和频域数字散斑相关的MEMS面内位移测量方法在审
申请号: | 201510423627.2 | 申请日: | 2015-07-15 |
公开(公告)号: | CN105043270A | 公开(公告)日: | 2015-11-11 |
发明(设计)人: | 胡章芳;罗元;席兵;黄冬冬;刘金兰;胡银平;辛伟;李岩岩 | 申请(专利权)人: | 重庆邮电大学 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02 |
代理公司: | 重庆市恒信知识产权代理有限公司 50102 | 代理人: | 刘小红 |
地址: | 400065 *** | 国省代码: | 重庆;85 |
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摘要: | 本发明请求保护一种混合分形插值和频域数字散斑相关技术的MEMS微结构平面位移测量方法,涉及图像频域相关技术和MEMS动态测量领域。本得到MEMS微结构运动散斑图像f(零相位时刻)和g(某一相位时刻);选择参考子区和目标子区的合适大小;对两幅子区图像进行分形插值处理;利用参考子区图像傅立叶变换的共轭作为匹配滤波器;用得到的滤波器对目标子区的频谱进行滤波;对滤波得到的结果再进行一次傅立叶变换,得到相关亮点;根据相关亮点的位置得到位移参数。克服了传统方法计算量大,测量分辨率不足的缺陷,实现MEMS微机构平面运动位移的快速高精度测量。 | ||
搜索关键词: | 混合 分形插值 数字 相关 mems 位移 测量方法 | ||
【主权项】:
一种混合分形插值和频域数字散斑相关的MEMS面内位移测量方法,其特征在于,包括以下步骤:101、微机电系统MEMS微结构在基于微视觉频闪系统下,在MEMS器件与物镜之间放置毛玻璃可得到MEMS微结构的散斑图像,从而得到MEMS微结构零相位时刻的参考图像f(x,y)和发生平移的目标图像g(x,y),x表示MEMS微结构运动平面的横坐标,y表示MEMS微结构运动平面的纵坐标;102、选择合适大小的参考图像f(x,y)的子区图像和目标图像g(x,y)的子区图像,选择子区图像大小为41×41pixel;103、对步骤102中得到的参考图像f(x,y)的子区图像和目标图像g(x,y)的子区图像采用随机中点分形插值法进行插值处理,得到f(x,y)的插值子区图像和g(x,y)的插值子区图像;104、对步骤103得到的f(x,y)的插值子区图像和g(x,y)的插值子区图像分别做傅立叶变换,并将f(x,y)的插值子区图像做傅立叶变换的共轭作为匹配滤波器;105、用步骤104得到的匹配滤波器对目标图像g(x,y)的插值子区图像的频谱进行滤波;106、对步骤105经过匹配滤波器滤波得到的结果再进行一次傅立叶变换,得到相关亮点;107、根据步骤106得到的相关亮点的位置得到位移参数,包括位移的大小和方向。
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