[发明专利]一种堆栈式工作台的误差补偿控制方法有效

专利信息
申请号: 201510426889.4 申请日: 2015-07-17
公开(公告)号: CN104965958B 公开(公告)日: 2018-01-23
发明(设计)人: 杨洪涛;喻曹丰;费业泰;吴天凤;查小娜 申请(专利权)人: 安徽理工大学
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 合肥顺超知识产权代理事务所(特殊普通合伙)34120 代理人: 周发军
地址: 232001 *** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开了一种堆栈式工作台的误差补偿控制方法,应用于机床误差补偿技术领域,包括分析堆栈式工作台Y轴导轨偏摆角和俯仰角引起的加工点Y方向的阿贝误差并建立阿贝误差模型;分析堆栈式工作台的Y轴导轨角度误差对X轴导轨角度误差相关性和抵偿性的影响;建立X轴导轨角度误差和Y轴导轨角度误差共同作用下的加工点X方向的阿贝误差模型;应用上述模型对堆栈式工作台单向运动二维阿贝误差进行补偿控制。此种建模精度更高,更符合工作台的实际工作状态,为下一步的误差测量和误差补偿工作提供基础,从而有效提高机床的加工精度。
搜索关键词: 一种 堆栈 工作台 误差 补偿 控制 方法
【主权项】:
一种堆栈式工作台的误差补偿控制方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤一、分析堆栈式工作台Y轴导轨偏摆角和俯仰角引起的加工点Y方向的阿贝误差并建立阿贝误差模型;步骤二、分析堆栈式工作台的Y轴导轨角度误差对X轴导轨角度误差相关性和抵偿性的影响;步骤三、建立X轴导轨角度误差和Y轴导轨角度误差共同作用下的加工点X方向的阿贝误差模型;步骤四、应用上述模型对堆栈式工作台单向运动二维阿贝误差进行补偿控制;所述Y轴导轨偏摆角引起的加工点Y方向上阿贝误差δpy的表达式为:δpy=Axtanεyz  (1)式中Ax——工件加工点的理想坐标为(x,y,z)时,Y轴导轨的测量点和工件加工点在X方向上的距离,可由光栅尺测得,其中,测量点位于Y轴导轨光栅尺所在的直线上;εyz——工件加工点的理想坐标为(x,y,z)时,Y轴导轨的偏摆角,是在切削环境温度变化引起的热变形误差、切削力引起的力变形误差、双导轨本身的结构误差共同作用下测得,并规定绕Z轴逆时针旋转的方向为其正方向,反之为其负方向;所述Y轴导轨俯仰角引起的加工点Y方向上阿贝误差δfy的表达式为:δfy=Aztanεyx  (2)式中Az——工件加工点的理想坐标为(x,y,z)时,Y轴导轨的测量点和工件加工点在Z方向上的距离,可由光栅尺测得,其中,测量点位于Y轴导轨光栅尺所在的直线上;εyx——工件加工点的理想坐标为(x,y,z)时,Y轴导轨的俯仰角,是在切削环境温度变化引起的热变形误差、切削力引 起的力变形误差、双导轨本身的结构误差共同作用下测得,并规定绕X轴逆时针旋转的方向为其正方向,反之为其负方向;所述Y轴导轨偏摆角和俯仰角共同引起的加工点Y方向上阿贝误差δy为δpy和δfy的矢量和,其表达式为:δy=δpy+δfy=Axtanεyz+Aztanεyx  (3)所述X轴导轨偏摆角εxz(x,y)为X轴导轨自身偏摆角εxz和Y轴导轨偏摆角εyz的矢量和,其表达式为:εxz(x,y)=εxz+εyz  (4)式中εxz——工件加工点的理想坐标为(x,y,z)时,X轴导轨的偏摆角,是在切削环境温度变化引起的热变形误差、切削力引起的力变形误差、双导轨本身的结构误差共同作用下测得,并规定绕Z轴逆时针旋转的方向为其正方向,反之为其负方向;所述X轴导轨俯仰角εxy(x,y)为X轴导轨自身俯仰角εxy和Y轴导轨滚转角εyy的矢量和,其表达式为:εxy(x,y)=εxy+εyy  (5)式中εxy——工件加工点的理想坐标为(x,y,z)时,X轴导轨的俯仰角,是在切削环境温度变化引起的热变形误差、切削力引起的力变形误差、双导轨本身的结构误差共同作用下测得,并规定绕Y轴逆时针旋转的方向为其正方向,反之为其负方向;εyy——工件加工点的理想坐标为(x,y,z)时,Y轴导轨的滚转角,是在切削环境温度变化引起的热变形误差、切削力引起的力变形误差、双导轨本身的结构误差共同作用下测得,并规定绕Y轴逆时针旋转的方向为其正方向,反之为其负方向;所述X轴导轨偏摆角引起的加工点X方向上阿贝误差δpx的表达式为:δpx=Bytanεxz(x,y)=Bytan(εxz+εyz)  (6)式中By——工件加工点的理想坐标为(x,y,z)时,X轴导轨的测量点和工件加工点在Y方向上的距离,可由光栅尺测得,其中,测量点位于X轴导轨光栅尺所在的直线上;所述X轴导轨俯仰角引起的加工点X方向上阿贝误差δfx的表达式为:δfx=Bztanεxy(x,y)=Bztan(εxy+εyy)  (7)式中Bz——工件加工点的理想坐标为(x,y,z)时,X轴导轨的测量点和工件加工点在Z方向上的距离,可由光栅尺测得,其中,测量点位于X轴导轨光栅尺所在的直线上;所述X轴导轨偏摆角和俯仰角共同引起的加工点X方向上阿贝误差δx为δpx和δfx的矢量和,其表达式为:δx=δpx+δfx=Bytan(εxz+εyz)+Bztan(εxy+εyy)  (8)。
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